| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 课题背景与研究意义 | 第12-13页 |
| 1.2 亚像元定位技术的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.1 国际的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.2 国内的研究现状 | 第15页 |
| 1.3 论文主要研究内容及结构安排 | 第15-16页 |
| 1.4 本文实验运行的环境 | 第16-18页 |
| 第2章 遥感图像的亚像元定位技术 | 第18-23页 |
| 2.1 遥感图像亚像元定位的基本概念 | 第18-20页 |
| 2.1.1 亚像元定位的基本思想 | 第18页 |
| 2.1.2 亚像元定位的基本原理 | 第18-19页 |
| 2.1.3 亚像元定位的基本方法 | 第19-20页 |
| 2.2 亚像元定位精度的评价方法 | 第20-22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 基于亚像元/亚像元空间引力模型的亚像元定位及模型参数分析 | 第23-33页 |
| 3.1 空间相关性理论的数学模型 | 第23-24页 |
| 3.2 基于亚像元/亚像元空间引力模型的亚像元定位方法 | 第24-32页 |
| 3.2.1 SPASM的基本原理 | 第24-25页 |
| 3.2.2 SSSAM的基本原理 | 第25-27页 |
| 3.2.3 实验内容和结果分析 | 第27-32页 |
| 3.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 基于立方卷积插值算法的亚像元定位 | 第33-42页 |
| 4.1 立方卷积插值算法 | 第33-34页 |
| 4.1.1 立方卷积插值算法的基本原理 | 第33页 |
| 4.1.2 立方卷积插值算法的特点 | 第33-34页 |
| 4.2 超分辨率技术 | 第34-35页 |
| 4.2.1 超分辨率技术的基本原理 | 第34-35页 |
| 4.2.2 超分辨率技术与亚像元定位技术的区别 | 第35页 |
| 4.3 基于立方卷积插值算法的亚像元定位 | 第35-40页 |
| 4.3.1 亚像元尺度下的“硬分类” | 第36页 |
| 4.3.2 实验结果及分析 | 第36-40页 |
| 4.4 本章小结 | 第40-42页 |
| 第5章 基于混合插值算法的亚像元定位 | 第42-57页 |
| 5.1 双线性插值算法 | 第42-43页 |
| 5.1.1 基于双线性插值算法的超分辨率技术 | 第43页 |
| 5.1.2 双线性插值算法特点分析 | 第43页 |
| 5.2 反距离权值插值算法 | 第43-45页 |
| 5.2.1 基于反距离权值插值算法的超分辨率技术 | 第44-45页 |
| 5.2.2 反距离权值插值算法特点分析 | 第45页 |
| 5.3 对偶插值算法 | 第45-47页 |
| 5.3.1 对偶插值算法的基本原理 | 第46-47页 |
| 5.3.2 对偶插值算法特点分析 | 第47页 |
| 5.4 混合插值算法 | 第47-56页 |
| 5.4.1 基于混合插值算法的亚像元定位的实现 | 第47-48页 |
| 5.4.2 实验结果及分析 | 第48-56页 |
| 5.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |