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Q235钢表面硅烷膜的制备与性能研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第11-27页
    1.1 研究背景第11-12页
    1.2 硅烷偶联剂概述第12-19页
        1.2.1 硅烷偶联剂的发展历史第12-13页
        1.2.2 硅烷偶联剂的结构及作用机理第13-15页
        1.2.3 硅烷偶联剂的水解与失效第15-17页
        1.2.4 硅烷偶联剂的应用第17-19页
    1.3 金属表面硅烷膜的研究现状第19-25页
        1.3.1 硅烷膜的制备工艺第19-21页
        1.3.2 硅烷膜的掺杂改性第21-22页
        1.3.3 硅烷膜的表征与测试方法第22-25页
    1.4 研究内容与意义第25-27页
第2章 实验部分第27-35页
    2.1 实验材料与仪器第27-29页
        2.1.1 实验试剂第27页
        2.1.2 实验所用金属基体第27-28页
        2.1.3 实验仪器第28-29页
    2.2 实验方法第29-31页
        2.2.1 实验流程第29页
        2.2.2 金属基体的前处理第29-30页
        2.2.3 硅烷偶联剂的水解第30页
        2.2.4 硅烷膜的制备第30-31页
        2.2.5 正交实验设计第31页
        2.2.6 环氧涂层的制备第31页
    2.3 分析表征第31-32页
        2.3.1 形貌分析第31页
        2.3.2 表面成分分析第31-32页
    2.4 性能测试第32-35页
        2.4.1 电化学测试第32-33页
        2.4.2 中性盐雾实验第33页
        2.4.3 粘结性能测试第33-35页
第3章 结果和讨论第35-61页
    3.1 硅烷的水解工艺研究第35-43页
        3.1.1 硅烷含量的影响第35页
        3.1.2 硅烷/无水乙醇/去离子水之间的配比及水解时间的影响第35-39页
        3.1.3 pH值的影响第39-40页
        3.1.4 γ-GPS、BTSE硅烷之间配比的影响第40页
        3.1.5 正交实验设计及结果第40-43页
    3.2 硅烷膜的固化工艺研究第43-46页
        3.2.1 固化温度的影响第43-45页
        3.2.2 固化时间的影响第45-46页
    3.3 硅烷膜层的分析表征与性能研究第46-53页
        3.3.1 硅烷膜层的扫描电镜(SEM)分析第46-48页
        3.3.2 硅烷膜层的红外反射吸收光谱(RA-IR)分析第48-49页
        3.3.3 硅烷膜层的X射线光电子能谱(XPS)分析第49-50页
        3.3.4 硅烷膜层的极化曲线分析第50-51页
        3.3.5 硅烷膜层的交流阻抗图谱分析第51-53页
    3.4 硅烷膜层对环氧涂层性能的影响第53-61页
        3.4.1 粘结强度测试结果第53-55页
        3.4.2 中性盐雾实验结果第55-56页
        3.4.3 交流阻抗测试结果第56-61页
第4章 结论及展望第61-63页
    4.1 主要结论第61-62页
    4.2 工作展望第62-63页
参考文献第63-69页
致谢第69页

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