用于原子冷却的激光注入锁定放大研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 绪论 | 第10-14页 |
1.1 课题研究背景 | 第10-11页 |
1.2 激光在原子干涉重力测量中的需求和应用 | 第11-12页 |
1.3 硕士期间的主要工作 | 第12-14页 |
2 半导体激光器功率放大原理和方法 | 第14-19页 |
2.1 半导体激光器概述 | 第14-15页 |
2.1.1 半导体激光器原理 | 第14-15页 |
2.1.2 半导体激光器输出特性 | 第15页 |
2.2 激光功率放大方法和原理 | 第15-18页 |
2.2.1 激光注入锁定放大 | 第15-17页 |
2.2.2 锥形激光放大 | 第17-18页 |
2.2.3 方案比较和选择 | 第18页 |
2.3 本章小结 | 第18-19页 |
3 电流源、温度控制及激光器的制作 | 第19-37页 |
3.1 整体系统设计 | 第19页 |
3.2 电源 | 第19-20页 |
3.3 电流源电路 | 第20-26页 |
3.3.1 稳压滤波电路 | 第20-21页 |
3.3.2 慢启动电路 | 第21-22页 |
3.3.3 恒流驱动电路 | 第22-24页 |
3.3.4 辅助电路 | 第24-26页 |
3.4 温度控制系统 | 第26-35页 |
3.4.1 温度控制原理 | 第26-27页 |
3.4.2 PID控制算法 | 第27-28页 |
3.4.3 温控器件选型 | 第28-31页 |
3.4.4 温度控制电路 | 第31-35页 |
3.5 激光器的制作 | 第35-36页 |
3.6 本章小结 | 第36-37页 |
4 激光器性能测试及分析 | 第37-52页 |
4.1 电源测试 | 第37-38页 |
4.2 电流源测试 | 第38-42页 |
4.2.1 电流源线性度 | 第38-39页 |
4.2.2 电流源精度 | 第39-40页 |
4.2.3 电流源噪声 | 第40-41页 |
4.2.4 电流源长期稳定性 | 第41-42页 |
4.3 温度控制系统测试 | 第42-45页 |
4.3.1 温度控制精度 | 第42-43页 |
4.3.2 温度控制的时间常数和长期稳定性 | 第43-44页 |
4.3.3 温度控制范围 | 第44-45页 |
4.4 激光器输出光特性测试 | 第45-47页 |
4.4.1 激光器输出功率测试 | 第45-46页 |
4.4.2 激光器波长测试 | 第46-47页 |
4.5 激光器改进及测试 | 第47-51页 |
4.5.1 激光器改进 | 第47-48页 |
4.5.2 激光器温度控制测试 | 第48-50页 |
4.5.3 改进激光器后波长测试 | 第50-51页 |
4.6 本章小结 | 第51-52页 |
5 注入锁定实验 | 第52-67页 |
5.1 激光注入锁定放大的影响因素 | 第52-53页 |
5.2 注入锁定实验光路 | 第53-54页 |
5.3 注入锁定放大实验 | 第54-57页 |
5.4 改用大功率激光管做注入锁定实验 | 第57-66页 |
5.4.1 注入锁定实验结果 | 第58-62页 |
5.4.2 主从激光器频率监测 | 第62页 |
5.4.3 注入锁定的锁频范围 | 第62-64页 |
5.4.4 注入锁定的长期稳定性 | 第64-65页 |
5.4.5 注入锁定拍频实验 | 第65-66页 |
5.5 本章小结 | 第66-67页 |
6 总结与展望 | 第67-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-73页 |