| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第15-32页 |
| 1.1 课题研究的背景与意义 | 第15-20页 |
| 1.1.1 CTP结构及基板上ITO电路图案的特点 | 第16-18页 |
| 1.1.2 CTP基板ITO电路图案的缺陷分析 | 第18-20页 |
| 1.2 ITO电路图案检测技术国内外研究及应用现状 | 第20-29页 |
| 1.2.1 人眼目视+高倍显微镜检测 | 第20-21页 |
| 1.2.2 通电检测 | 第21-22页 |
| 1.2.3 自动光学检测 | 第22-29页 |
| 1.3 CTP基板ITO电路图案AOI系统关键技术分析 | 第29-30页 |
| 1.4 课题来源以及本文主要研究内容 | 第30-32页 |
| 1.4.1 课题来源 | 第30页 |
| 1.4.2 本文主要研究内容 | 第30-32页 |
| 第二章 CTP基板ITO电路图案的高质量图像获取 | 第32-48页 |
| 2.1 基板ITO电路图案的高质量成像含义 | 第32-33页 |
| 2.2 照明方案建模及设计 | 第33-38页 |
| 2.2.1 AOI常用照明方式 | 第33-34页 |
| 2.2.2 CTP基板ITO电路图案的线阵成像方式 | 第34-36页 |
| 2.2.3 最大叠加反射系数的成像系统设计 | 第36-38页 |
| 2.3 成像系统结构参数设计 | 第38-42页 |
| 2.3.1 放大倍数 β 及光圈F | 第38-39页 |
| 2.3.2 景深 | 第39-42页 |
| 2.4 基于最大叠加反射系数原理的成像方案实验验证 | 第42-47页 |
| 2.4.1 实验参数确定 | 第42-43页 |
| 2.4.2 线阵CCD的平场矫正（Flat-field Correction） | 第43页 |
| 2.4.3 不同亮度下成像实验及评价 | 第43-45页 |
| 2.4.4 不同运动速度下成像实验及评价 | 第45-47页 |
| 2.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第三章 CTP基板ITO电路图案AOI机电系统设计 | 第48-62页 |
| 3.1 机电系统整体规划设计 | 第48-52页 |
| 3.1.1 总体方案规划 | 第48-50页 |
| 3.1.2 运动速度及部件的确定 | 第50-51页 |
| 3.1.3 单个CTP的粗自动分割机电系统实现 | 第51-52页 |
| 3.2 主运动加减速段运动规律设计及机电系统实现 | 第52-56页 |
| 3.2.1 常用的加减速控制策略 | 第52-53页 |
| 3.2.2 一种改进的加加速连续的加减速控制策略 | 第53页 |
| 3.2.3 加减速规律对比分析 | 第53-55页 |
| 3.2.4 加加速连续的加减速控制策略的实现 | 第55-56页 |
| 3.3 基于图像质量评价函数的自动对焦机电系统 | 第56-60页 |
| 3.3.1 自动对焦评价函数 | 第57-58页 |
| 3.3.2 自动对焦硬件设计及算法实现 | 第58-60页 |
| 3.4 本章小结 | 第60-62页 |
| 第四章 CTP基板ITO电路图案的缺陷提取算法 | 第62-96页 |
| 4.1 基于一维线图像比较算法的ITO电路图案缺陷检测 | 第62-78页 |
| 4.1.1 基于一维线图像ITO电路缺陷检测原理 | 第62-64页 |
| 4.1.2 无缺陷模板制作 | 第64-66页 |
| 4.1.3 确定建模用原图中的缺陷 | 第66-69页 |
| 4.1.4 修复建模用原图中的缺陷 | 第69-71页 |
| 4.1.5 利用模板检测CTP基板ITO电路图案缺陷 | 第71-72页 |
| 4.1.6 一维线图像比较算法的实验结果及分析 | 第72-78页 |
| 4.2 基于NMF的公差模板法ITO电路图案缺陷检测 | 第78-89页 |
| 4.2.1 基于NMF的图像配准及CTP精确分割 | 第78-80页 |
| 4.2.2 基于图像公差模型的无缺陷模板提取 | 第80-81页 |
| 4.2.3 基于图像公差模板的缺陷检测 | 第81-82页 |
| 4.2.4 非负矩阵分解的公差模板缺陷检测算法实验及分析 | 第82-89页 |
| 4.3 陷波模板法ITO电路图案缺陷检测 | 第89-93页 |
| 4.3.1 陷波模板法缺陷检测算法原理 | 第89-91页 |
| 4.3.2 陷波模板法缺陷检测算法的实验及分析 | 第91-93页 |
| 4.4 算法对比评价 | 第93-94页 |
| 4.5 本章小结 | 第94-96页 |
| 第五章 CTP基板ITO电路图案的缺陷分类 | 第96-103页 |
| 5.1 缺陷的理解 | 第96-98页 |
| 5.2 基于一维线图像比较算法的ITO电路图案缺陷分类 | 第98-100页 |
| 5.3 图像公差模板法ITO电路图案缺陷分类 | 第100-101页 |
| 5.4 缺陷分类实验及分析 | 第101-102页 |
| 5.5 本章小结 | 第102-103页 |
| 结论与展望 | 第103-105页 |
| 参考文献 | 第105-113页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第113-115页 |
| 致谢 | 第115-116页 |
| 附件 | 第116页 |
