基于GO法的某综合传动装置电控系统可靠性分析
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 缩略词及常用符号表 | 第14-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-22页 |
| 1.1 课题研究目的及意义 | 第15-16页 |
| 1.2 可靠性的发展历史和研究现状 | 第16页 |
| 1.3 可靠性分析方法发展及对比 | 第16-19页 |
| 1.4 GO法的应用 | 第19-20页 |
| 1.5 电子设备可靠性研究 | 第20-21页 |
| 1.6 本文主要研究工作 | 第21-22页 |
| 第2章 GO法可靠性分析示例与GO软件 | 第22-31页 |
| 2.1 GO法在航空电子设备可靠性分析中的应用 | 第22-25页 |
| 2.1.1 系统描述 | 第22页 |
| 2.1.2 系统GO图 | 第22-23页 |
| 2.1.3 GO运算 | 第23-25页 |
| 2.2 GO软件 | 第25-30页 |
| 2.2.1 GO软件简介 | 第25页 |
| 2.2.2 软件功能 | 第25-26页 |
| 2.2.3 操作符设计 | 第26-28页 |
| 2.2.4 GO软件界面介绍 | 第28-30页 |
| 2.3 小结 | 第30-31页 |
| 第3章 某综合传动装置电控系统可靠性分析 | 第31-43页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 某综合传动装置电控系统简介 | 第31-36页 |
| 3.2.1 控制与驱动模块 | 第32-33页 |
| 3.2.2 采集与故障诊断模块 | 第33-34页 |
| 3.2.3 TCDU系统分层 | 第34-36页 |
| 3.3 TCDU中的可靠性设计 | 第36-38页 |
| 3.3.1 简化设计 | 第36页 |
| 3.3.2 热设计 | 第36-37页 |
| 3.3.3 余度设计 | 第37页 |
| 3.3.4 电磁兼容性设计 | 第37-38页 |
| 3.4 电子设备可靠性预计 | 第38-42页 |
| 3.4.1 电阻可靠性预计 | 第40-41页 |
| 3.4.2 热电偶可靠性预计 | 第41页 |
| 3.4.3 电容可靠性预计 | 第41页 |
| 3.4.4 二极管可靠性预计 | 第41-42页 |
| 3.4.5 MCU可靠预计 | 第42页 |
| 3.4.6 开关可靠性预计 | 第42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于GO法的各单元可靠性预计 | 第43-70页 |
| 4.1 基于GO法的电源模块可靠性预计 | 第43-47页 |
| 4.2 基于GO法的温度信号采集电路可靠性预计 | 第47-51页 |
| 4.3 基于GO法的压力信号采集电路可靠性预计 | 第51-58页 |
| 4.4 基于GO法的单片机配置电路可靠性预计 | 第58-62页 |
| 4.4.1 单片机复位电路分析 | 第58-60页 |
| 4.4.2 晶振电路分析 | 第60-61页 |
| 4.4.3 MCU最小电路可靠性预计 | 第61-62页 |
| 4.5 基于GO法的开关信号采集电路可靠性预计 | 第62-65页 |
| 4.6 基于GO法的速度与变速电路可靠性预计 | 第65-68页 |
| 4.7 本章小结 | 第68-70页 |
| 第5章 基于GO法的TCDU可靠性预计 | 第70-83页 |
| 5.1 基于GO法的控制与驱动模块可靠性预计 | 第70-72页 |
| 5.2 基于GO法的采集与故障诊断模块可靠性预计 | 第72-78页 |
| 5.3 基于GO法的TCDU可靠性预计 | 第78-82页 |
| 5.4 本章小结 | 第82-83页 |
| 结论 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |
