| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 主要符号对照表 | 第9-11页 |
| 第1章 引言 | 第11-16页 |
| ·课题背景介绍 | 第11-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-14页 |
| ·选题意义和研究内容 | 第14页 |
| ·课题的研究意义 | 第14页 |
| ·课题主要内容 | 第14页 |
| ·论文结构安排 | 第14-16页 |
| 第2章 安全应用技术研究 | 第16-23页 |
| ·系统总体概述 | 第16页 |
| ·系统失效分析 | 第16-18页 |
| ·电子控制系统可靠性架构分析 | 第18页 |
| ·安全应用标准 | 第18-20页 |
| ·IEC61508 | 第18-20页 |
| ·ISO26262 | 第20页 |
| ·提高系统可靠性的方法 | 第20-22页 |
| ·本章内容小结 | 第22-23页 |
| 第3章 Freescale MPC5643L 安全性能介绍 | 第23-34页 |
| ·Freescale MPC5643L 概述 | 第23页 |
| ·MPC5643L 整体分析 | 第23-26页 |
| ·MPC5643L 架构分析 | 第23-26页 |
| ·MPC5643L 功能性安全分析 | 第26-28页 |
| ·MPC5643L 复制区域 | 第26页 |
| ·ECC 错误校验 | 第26页 |
| ·电压及时钟监控 | 第26-27页 |
| ·内置自检测功能 | 第27页 |
| ·故障采集和管理 | 第27-28页 |
| ·MPC5643L 的失效诊断与故障注入技术实现 | 第28-33页 |
| ·MPC5643L 的失效诊断实现 | 第28-29页 |
| ·MPC5643L 的故障注入技术实现 | 第29-33页 |
| ·本章内容小结 | 第33-34页 |
| 第4章 安全应用平台硬件电路设计与实现 | 第34-53页 |
| ·系统硬件电路整体设计概述 | 第34页 |
| ·系统硬件电路各模块设计 | 第34-51页 |
| ·MPC5643L 微控制器核心电路 | 第34-36页 |
| ·电源模块 | 第36-38页 |
| ·通信接口 | 第38-44页 |
| ·掉电检测模块 | 第44-46页 |
| ·铁电 RAM 存储模块 | 第46-48页 |
| ·执行器驱动模块 | 第48页 |
| ·SPI 电平检测模块 | 第48-49页 |
| ·人机交互接口 | 第49-51页 |
| ·PCB 安全设计 | 第51-52页 |
| ·本章内容小结 | 第52-53页 |
| 第5章 安全应用平台软件设计及实现 | 第53-83页 |
| ·系统软件整体概述 | 第53页 |
| ·μC/OS 介绍 | 第53-55页 |
| ·μC/OS-II 概述 | 第53-54页 |
| ·μC/OS-II 特点 | 第54-55页 |
| ·程序回卷恢复 | 第55-77页 |
| ·程序回卷恢复基本原理 | 第55-60页 |
| ·程序回卷恢复软硬件支持 | 第60-64页 |
| ·裸板程序检查点设置及回卷恢复设计实现 | 第64-70页 |
| ·μCOS-II 任务回卷恢复设计实现 | 第70-76页 |
| ·提高任务回卷μCOS-II 实时性改进设计方案 | 第76-77页 |
| ·掉电恢复设计及实现 | 第77-81页 |
| ·本章内容小结 | 第81-83页 |
| 第6章 系统测试与结果分析 | 第83-88页 |
| ·系统测试 | 第83-87页 |
| ·铁电 RAM 存储测试 | 第84-86页 |
| ·掉电恢复测试 | 第86-87页 |
| ·故障注入技术验证平台安全性能 | 第87页 |
| ·本章内容小结 | 第87-88页 |
| 第7章 总结与展望 | 第88-91页 |
| ·论文工作总结 | 第88-89页 |
| ·课题的展望 | 第89-91页 |
| 参考文献 | 第91-93页 |
| 致谢 | 第93-95页 |
| 附录 A 安全应用平台系统实物图 | 第95-97页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第97页 |