带缩口流体分离微米颗粒工艺研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目录 | 第7-9页 |
第1章 绪论 | 第9-22页 |
·微流控技术简介 | 第9-11页 |
·微流控技术的发展 | 第9-10页 |
·微流体的特点 | 第10-11页 |
·微流控分离方法 | 第11-19页 |
·传统微流控分离方法 | 第11-14页 |
·连续性无外场微流控分离技术 | 第14-17页 |
·其它微流控分离方法 | 第17-19页 |
·论文研究意义 | 第19-20页 |
·论文研究内容 | 第20-22页 |
第2章 带缩口流体分离的原理和实验装置 | 第22-27页 |
·带缩口流体分离的原理 | 第22页 |
·实验样品和试剂 | 第22-23页 |
·实验仪器和设备 | 第23-24页 |
·带缩口流体装置加工流程 | 第24-26页 |
·硅片试验装置加工工艺 | 第24-25页 |
·PDMS和PC装置加工工艺 | 第25-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第3章 临界尺寸计算模型比较研究 | 第27-36页 |
·前言 | 第27-28页 |
·基本计算方法介绍 | 第28页 |
·基于三维理论模型的计算 | 第28-32页 |
·基于抛物线模型的计算 | 第32-33页 |
·基于半圆模型的计算 | 第33页 |
·三种模型计算结果比较 | 第33-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第4章 FLUENT软件模拟分离过程 | 第36-46页 |
·微流道模拟前处理 | 第36-39页 |
·微流道模型的建立以及分块 | 第36-37页 |
·微流道模型计算网格的生成 | 第37-39页 |
·FLUENT软件计算结果及Tecplot后处理 | 第39-44页 |
·Fluent软件模拟设置 | 第39-40页 |
·Tecplot后处理 | 第40-44页 |
·FLUENT软件模拟结果可靠性验证 | 第44-45页 |
·本章小结 | 第45-46页 |
第5章 带缩口流体分离装置实验 | 第46-59页 |
·前言 | 第46页 |
·实验过程 | 第46-47页 |
·实验准备 | 第46页 |
·实验过程和芯片清洗 | 第46-47页 |
·硅片带缩口流体分离装置实验结果 | 第47-48页 |
·两出口PDMS带缩口流体分离装置实验结果 | 第48-51页 |
·缩口宽度为30μm装置实验结果 | 第49-50页 |
·缩口宽度为40μm装置实验结果 | 第50页 |
·缩口宽度为45μm装置实验结果 | 第50-51页 |
·有13个出口的PDMS芯片实验结果 | 第51-55页 |
·微流体实验过程中的问题 | 第55-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
第6章 总结与展望 | 第59-61页 |
·总结 | 第59页 |
·创新点 | 第59-60页 |
·展望 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
攻读硕士期间发表论文与奖励 | 第69-70页 |
卷内备考表 | 第70页 |