一种适用于高级量测体系的可靠性评估方法
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
·研究的背景及意义 | 第9-10页 |
·课题研究现状 | 第10-13页 |
·AMI系统研究现状 | 第10-11页 |
·可靠性问题研究现状 | 第11-13页 |
·课题研究现状总结 | 第13页 |
·本文主要研究内容 | 第13-15页 |
第2章 高级量测体系的结构与组成对象 | 第15-24页 |
·AMI系统概述 | 第15-16页 |
·AMI的总体架构 | 第16-20页 |
·用电信息采集系统典型架构 | 第16-17页 |
·高级量测体系典型架构 | 第17-20页 |
·高级量测体系与用电信息采集系统的异同 | 第20页 |
·AMI的组成对象 | 第20-23页 |
·智能电表 | 第20-21页 |
·通信网络 | 第21-22页 |
·AMI主站 | 第22-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第3章 高级量测体系的可靠性评估指标 | 第24-31页 |
·可靠性基础 | 第24-27页 |
·元件可靠性及其指标 | 第24-26页 |
·串联系统的可靠性模型 | 第26页 |
·并联系统的可靠性模型 | 第26-27页 |
·高级量测体系可靠性评估指标 | 第27-29页 |
·用户可靠性指标 | 第27-28页 |
·系统可靠性指标 | 第28-29页 |
·高级量测体系可靠性评估流程 | 第29-30页 |
·用户可靠性指标计算 | 第29页 |
·系统可靠性指标计算 | 第29-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第4章 高级量测体系的可靠性评估模型 | 第31-44页 |
·MARKOV过程概述 | 第31-33页 |
·AMI主站的可用性模型 | 第33-35页 |
·SDH广域通信主网的可用性模型 | 第35-39页 |
·AMI子系统可用性模型 | 第39-43页 |
·故障模式影响分析法概述 | 第39-40页 |
·AMI子系统可用度计算 | 第40-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第5章 算例分析 | 第44-50页 |
·AMI系统举例 | 第44-45页 |
·用户可靠性指标计算 | 第45-46页 |
·AMI子系统可靠性指标 | 第45-46页 |
·用户层面可靠性指标计算 | 第46页 |
·系统可靠性指标计算 | 第46-49页 |
·AMI主站可用度计算 | 第46-47页 |
·AMI广域通信SDH环网可用度计算 | 第47页 |
·AMI可用度计算 | 第47-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第6章 结论和展望 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-56页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第56-57页 |
致谢 | 第57页 |