| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-25页 |
| ·微波介质陶瓷简述 | 第11-12页 |
| ·微波介质陶瓷体系分类与发展趋势 | 第12-15页 |
| ·微波介质陶瓷体系的分类 | 第12-13页 |
| ·微波介质陶瓷领域的研究现状 | 第13-15页 |
| ·微波介质陶瓷的基本性能及其相关理论 | 第15-19页 |
| ·介电常数 | 第15-17页 |
| ·品质因数(介电损耗) | 第17-18页 |
| ·谐振频率温度系数 | 第18-19页 |
| ·显微结构与介电性能 | 第19-23页 |
| ·晶相对介电性能的影响 | 第20-21页 |
| ·气相对介电性能的影响 | 第21-22页 |
| ·玻璃相对介电性能的影响 | 第22页 |
| ·影响介电性能的其它因素 | 第22-23页 |
| ·本文的立题依据及主要研究内容 | 第23-25页 |
| ·本文的立题依据 | 第23-24页 |
| ·主要研究内容 | 第24-25页 |
| 第2章 高能球磨法及陶瓷的制备与表征 | 第25-33页 |
| ·高能球磨法的概述 | 第25页 |
| ·用高能球磨法制备微波介质陶瓷的过程 | 第25-29页 |
| ·表征技术及性能测试 | 第29-32页 |
| ·粉体的结构表征与测试 | 第29-30页 |
| ·陶瓷块的结构表征与性能测试 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 高能球磨法制备Mg_2SiO_4纳米粉及陶瓷性能的表征 | 第33-45页 |
| ·引言 | 第33-34页 |
| ·实验过程 | 第34页 |
| ·Mg_2SiO_4粉体的结构表征与测试分析 | 第34-39页 |
| ·不同球磨时间下的物相分析 | 第34页 |
| ·综合热分析(TG/DTA) | 第34-36页 |
| ·相结构的形成 | 第36-37页 |
| ·粉体的显微结构与粒度分析 | 第37-39页 |
| ·Mg_2SiO_4陶瓷的相结构与性能测试 | 第39-42页 |
| ·陶瓷的物相分析与显微结构 | 第39-40页 |
| ·烧结性能与介电性能 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-45页 |
| 第4章 高能球磨法制备AWO4(A=Ca,Ba,Sr)纳米晶及单相陶瓷的性能测试与表征 | 第45-61页 |
| ·引言 | 第45-46页 |
| ·实验过程 | 第46页 |
| ·高能球磨对CAWO_4相合成及其陶瓷性能的影响 | 第46-53页 |
| ·CaWO_4相的合成与粉体粒度表征 | 第46-48页 |
| ·CaWO_4陶瓷的显微结构与性能测试 | 第48-53页 |
| ·AWO_4(A=Ca,Ba,Sr)粉体及微波介质陶瓷的性能表征 | 第53-59页 |
| ·AWO_4粉体及陶瓷的物相分析 | 第53-55页 |
| ·AWO_4陶瓷的显微结构与性能测试 | 第55-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第5章 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第73页 |