| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究背景 | 第9-11页 |
| ·研究内容和贡献 | 第11-12页 |
| ·主要工作 | 第11-12页 |
| ·主要目标 | 第12页 |
| ·论文结构 | 第12-14页 |
| 第2章 程序错误定位技术概述 | 第14-26页 |
| ·静态检测技术 | 第14-15页 |
| ·程序错误定位技术 | 第15-17页 |
| ·基于测试的错误定位技术(TBFL) | 第17-25页 |
| ·基于距离度量的方法 | 第18-21页 |
| ·基于特征统计的方法 | 第21-25页 |
| ·本章总结 | 第25-26页 |
| 第3章 基于测试用例聚类的错误定位框架 | 第26-45页 |
| ·错误定位框架设计 | 第26-29页 |
| ·故障注入FaultInjector | 第29页 |
| ·测试用例的生成/选取TestCaseGenerator | 第29-31页 |
| ·程序插装Instrumentor | 第31-34页 |
| ·对C程序的插装 | 第32-33页 |
| ·对Java程序的插装 | 第33-34页 |
| ·路径编码Profiler | 第34-37页 |
| ·测试用例聚类Cluster | 第37-38页 |
| ·错误报告分析与评估ReportEvaluator | 第38-43页 |
| ·程序依赖图 | 第39-41页 |
| ·错误报告分析与评估 | 第41-43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第4章 用于程序错误定位的运行路径聚类方法 | 第45-59页 |
| ·路径预处理 | 第46-51页 |
| ·程序谱 | 第46-47页 |
| ·扩展后的程序BCS谱 | 第47-49页 |
| ·观察矩阵 | 第49-51页 |
| ·谓词适应度 | 第51-53页 |
| ·相似度系数 | 第51-52页 |
| ·谓词适应度 | 第52-53页 |
| ·利用聚类消除路径冗余 | 第53-55页 |
| ·路径冗余 | 第53-55页 |
| ·消除路径冗余的算法 | 第55页 |
| ·差异计算 | 第55-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 实验分析 | 第59-68页 |
| ·实验基本流程 | 第59-60页 |
| ·实验环境 | 第60页 |
| ·实验数据说明 | 第60-62页 |
| ·Siemens套件的实验结果 | 第62-67页 |
| ·关于V值 | 第62-63页 |
| ·与Wang算法、NN模型的对比分析 | 第63-64页 |
| ·与其他技术对比 | 第64-67页 |
| ·Java程序实验结果 | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第6章 总结与展望 | 第68-70页 |
| ·总结 | 第68页 |
| ·展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第76页 |
| 其他工作 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |