| 摘要 | 第1页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 第一章 前言 | 第4-5页 |
| 第二章 闪速存储器发展及现状 | 第5-8页 |
| 第三章 操作原理 | 第8-24页 |
| ·读操作 | 第10-12页 |
| ·擦除操作 | 第12-17页 |
| ·编程操作 | 第17-24页 |
| 第四章 MicroSD产品特性 | 第24-31页 |
| ·产品概述 | 第24-26页 |
| ·MicroSD结构及总线电路 | 第26-31页 |
| 第五章 测试项目与规格的确定 | 第31-46页 |
| ·产品测试的流程简介 | 第32-33页 |
| ·规格控制 | 第33-35页 |
| ·测试种类及方法 | 第35-46页 |
| 第六章 测试程序编写流程表 | 第46-55页 |
| 第七章 测试结果及总结 | 第55-59页 |
| ·测试仪器简介 | 第55-56页 |
| ·这是一个产品的测试报告 | 第56-59页 |
| 参考文献 | 第59-60页 |
| 后记 | 第60-61页 |