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大功率半导体激光器加速老化试验方法研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
第一章 绪论第10-14页
 §1-1 大功率半导体激光器研究现状第10-11页
  1-1-1 大功率半导体激光器概述第10-11页
  1-1-2 国外激光器寿命研究现状第11页
 §1-2 加速寿命试验概述第11-12页
  1-2-1 加速寿命试验的定义第11-12页
  1-2-2 国内外研究的历史与现状第12页
  1-2-3 我国的工程应用状况第12页
 §1-3 本论文的主要工作内容第12-14页
第二章 可靠性加速寿命试验统计学理论第14-24页
 §2-1 可靠性试验定义与分类第14-15页
  2-1-1 可靠性试验定义第14页
  2-1-2 可靠性试验分类第14-15页
 §2-2 可靠性常用术语和特征量第15-18页
  2-2-1 可靠度R或可靠度函数R(t)第15页
  2-2-2 失效概率或累积失效概率F(t)第15-16页
  2-2-3 失效率或瞬时失效率第16页
  2-2-4 失效密度或失效密度函数f(t)第16-17页
  2-2-5 平均寿命μ第17页
  2-2-6 寿命方差与寿命标准离差第17-18页
  2-2-7 可靠寿命、中位寿命和特征寿命第18页
 §2-3 电子产品常见失效规律及常用失效分布第18-19页
 §2-4 常用的寿命分布第19-23页
  2-4-1 指数分布第19-20页
  2-4-2 威布尔分布第20-22页
  2-4-3 对数正态分布第22-23页
 §2-5 小结第23-24页
第三章 80811m大功率半导体激光器结构与工艺第24-29页
 §3-1 大功率量子阱激光器结构第24页
 §3-2 半导体激光器的工艺流程第24-28页
  3-2-1 大功率激光器的制作过程第24-27页
  3-2-2 初步测试第27-28页
 §3-3 小结第28-29页
第四章 加速老化试验第29-39页
 §4-1 加速寿命试验目的第29页
 §4-2 加速寿命试验的类型及适用条件第29-31页
  4-2-1 加速寿命试验的三种类型第29-30页
  4-2-2 三种试验方法对比第30-31页
 §4-3 恒定应力加速寿命试验的组织第31-32页
  4-3-1 试验应力的选择第31页
  4-3-2 应力水平的选择第31页
  4-3-3 测量参数的确定第31页
  4-3-4 试验样品的选取与分组第31-32页
  4-3-5 明确失效判据,测定失效时间第32页
  4-3-6 试验停止时间的确定第32页
  4-3-7 试验数据的处理第32页
 §4-4 加速老化试验过程第32-38页
  4-4-1 前期筛选试验第32-35页
  4-4-2 快速退化激活能的计算第35-36页
  4-4-3 40℃下加速寿命试验第36-37页
  4-4-4 高温60℃、80℃下加速寿命试验第37-38页
 §4-5 小结第38-39页
第五章 加速老化试验后数据处理第39-48页
 §5-1 恒定应力加速寿命试验的基本假定第39页
 §5-2 图估法第39-43页
  5-2-1 绘制失效数据表第39-40页
  5-2-2 在威布尔概率图中绘制寿命曲线并估计参数值第40-41页
  5-2-3 阿列尼乌斯方程中参数估计第41-43页
 §5-3 数值解析法第43-47页
  5-3-1 最好线性无偏估计法及计算用数据第43-45页
  5-3-2 最好线性无偏估计法参数计算第45页
  5-3-3 加速寿命试验方程η=e~(a+b/T) 的计算第45-47页
 §5-4 小结第47-48页
第六章 大功率半导体激光器的失效分析第48-53页
 §6-1 老化前后特性对比第48-50页
 §6-2 失效机理第50-51页
  6-2-1 激光器材料内部的晶格缺陷和应力的影响第50页
  6-2-2 腔面退化第50-51页
  6-2-3 欧姆接触的退化第51页
  6-2-4 焊料变质第51页
 §6-3 目前器件可靠性在制备方面的改进措施第51-52页
 §6-4 小结第52-53页
第七章 结论与展望第53-54页
参考文献第54-56页
附录 A第56页
附录 B第56-57页
附录 C第57-58页
致谢第58-59页
攻读学位期间所取得的相关科研成果第59页

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