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神光Ⅱ激光装置上keV X射线及其应用

致谢第1-9页
摘要第9-11页
Abstract第11-15页
第一章 引言第15-22页
   ·惯性约束聚变概述第15-17页
   ·ICF和HEDP中高密度等离子体的诊断需要X射线波段的电磁波探针第17-18页
   ·ICF实验的特点要求专门研究ICF所需的高亮度X射线源第18-19页
   ·keV X射线源在ICF中的应用第19-20页
   ·论文内容安排第20页
 参考文献第20-22页
第二章 激光等离子体相互作用产生keV X射线源第22-48页
   ·激光作用靶物质产生X射线的主要机制第22-23页
   ·keV X射线源的研究进展第23-37页
     ·转换效率随激光强度的变化关系第24-26页
     ·转换效率随原子序数(或同壳层的X光硬度)的变化关系第26-28页
     ·转换效率与入射激光频率的关系第28-29页
     ·转换效率与激光入射角的关系第29页
     ·时间行为第29-30页
     ·激光焦斑对转换效率的影响第30页
     ·转换效率与激光脉宽的关系第30-31页
     ·靶材料初始状态和束匀滑的影响第31-32页
     ·角分布第32-33页
     ·光谱宽度对转换效率的影响第33页
     ·光谱随激光强度、原子序数的变化第33页
     ·keV X射线的产生区域第33-36页
     ·短脉冲(<200ps)和超短脉冲(fs~ps)X射线源的一些说明第36-37页
   ·优化长脉冲X射线源的一些方案第37-43页
     ·低密度辐射源(气体靶和气体密度气凝胶靶)第37-41页
     ·双脉冲方法第41-43页
     ·EUV光源的一些启示第43页
   ·总结第43-45页
 参考文献第45-48页
第三章 实验安排:靶结构、激光和诊断系统第48-57页
   ·介绍第48页
   ·激光参数第48-49页
   ·靶参数和入射角第49-50页
   ·探测系统第50-55页
 参考文献第55-57页
第四章 厚平面靶产生的keV X射线源的特征第57-68页
   ·X射线谱第57-58页
   ·辐射区域、K-shell X射线的激光强度的时间行为第58-61页
   ·焦斑尺寸对X射线源亮度的影响第61-63页
   ·X射线源亮度与激光波长的变化关系第63-64页
   ·角分布第64-66页
   ·转换效率第66页
   ·总结第66-67页
 参考文献第67-68页
第五章 薄膜靶高亮度X射线源第68-87页
   ·薄膜靶方案提高X射线源亮度第68-76页
     ·转换效率第68-69页
     ·时间积分的二位辐射体积第69-70页
     ·辐射区域一维时间变化第70-71页
     ·对薄膜靶辐射区域的数值模拟第71-75页
     ·K-shell X射线脉冲波形第75页
     ·薄膜靶靶前后X射线谱与厚平面靶时的差异第75-76页
   ·薄膜厚度和焦斑尺寸对薄膜靶keV X射线源的影响第76-83页
     ·薄膜靶的厚度对其产生的keV X射线源的影响第77-79页
     ·焦斑尺寸对薄膜靶产生的硬X射线源的影响第79-82页
     ·软X光产额的变化第82-83页
   ·总结和展望第83-85页
 参考文献第85-87页
第六章 L壳X射线源第87-94页
   ·L-shell X射线光谱第88页
   ·角分布第88-90页
   ·转换效率随原子序数(X射线硬度)的变化关系第90-91页
   ·转换效率随激光强度的变化关系第91-92页
   ·X射线脉冲和辐射区域第92页
   ·总结第92-93页
 参考文献第93-94页
第七章 间接驱动内爆靶丸压缩轨迹的测量第94-106页
   ·实验布局第95-97页
   ·静态靶丸照相和本底噪声检测第97-98页
   ·厚壳靶丸动态压缩轨迹测量第98-100页
   ·薄壳靶丸动态压缩轨迹测量第100-102页
   ·不同壳层厚度的靶丸阴影照相时最佳的X射线硬度估算第102-105页
   ·总结第105页
 参考文献第105-106页
第八章 X射线Thomson散射诊断固体密度等离子体第106-122页
   ·X射线Thomson散射的物理原理第108-109页
   ·X射线Thomson散射研究进展第109-115页
   ·神光Ⅱ激光装置上的X射线Thomson散射实验第115-118页
   ·总结第118-120页
 参考文献第120-122页
第九章 总结和展望第122-125页
 参考文献第124-125页
附录:X-ray Thomson sacttering理论第125-137页

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