半导体激光器寿命测试系统研制
| 第一章 绪论 | 第1-16页 |
| ·课题背景 | 第8页 |
| ·主要研究的内容 | 第8-10页 |
| ·半导体激光器可靠性理论研究 | 第8-9页 |
| ·半导体激光器老化筛选及寿命测试系统的研究 | 第9-10页 |
| ·本课题研究的意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-16页 |
| ·可靠性理论研究 | 第11-14页 |
| ·可靠性筛选及寿命测试研究 | 第14-16页 |
| 第二章 半导体激光器可靠性理论 | 第16-27页 |
| ·概述 | 第16页 |
| ·半导体激光器的失效模式及机理 | 第16-22页 |
| ·半导体激光器的失效模式 | 第17-19页 |
| ·半导体激光器的失效机理 | 第19-22页 |
| ·可靠性的数学表征 | 第22-27页 |
| ·可靠性的定义 | 第22页 |
| ·可靠度 | 第22-23页 |
| ·累积失效概率 | 第23页 |
| ·失效分布密度 | 第23-24页 |
| ·失效率 | 第24页 |
| ·浴盆形失效率函数 | 第24-27页 |
| 第三章 半导体激光器加速寿命试验原理 | 第27-36页 |
| ·寿命分布函数 | 第27-28页 |
| ·平均寿命 | 第27-28页 |
| ·可靠寿命 | 第28页 |
| ·中位寿命 | 第28页 |
| ·特征寿命 | 第28页 |
| ·长期寿命试验 | 第28-29页 |
| ·长期储存寿命试验 | 第29页 |
| ·长期工作寿命试验 | 第29页 |
| ·加速寿命试验 | 第29-36页 |
| ·加速寿命试验的理论依据 | 第30-33页 |
| ·加速寿命试验的种类 | 第33-34页 |
| ·加速寿命试验的数据处理 | 第34页 |
| ·加速寿命测试实例 | 第34-36页 |
| 第四章 加速寿命测试系统总体设计方案 | 第36-47页 |
| ·系统功能要求 | 第36-37页 |
| ·数据采集并得到寿命数据 | 第36页 |
| ·系统能提供0-3A连续可调的恒流电源 | 第36-37页 |
| ·具备可设定温度的控温系统 | 第37页 |
| ·系统的技术指标 | 第37-41页 |
| ·系统总体设计方案 | 第41-47页 |
| ·外观构造 | 第42页 |
| ·工控机系统选型 | 第42-44页 |
| ·控制机箱设计考虑 | 第44页 |
| ·样品架设计考虑 | 第44-45页 |
| ·软件设计 | 第45-47页 |
| 第五章 试验实例-14XX器件寿命测试 | 第47-49页 |
| ·试验条件 | 第47页 |
| ·试验数据 | 第47-48页 |
| ·试验数据处理 | 第48页 |
| ·试验结果 | 第48-49页 |
| 第六章 结论及建议 | 第49-51页 |
| ·结论 | 第49页 |
| ·建议 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-52页 |
| 主要参考文献 | 第52-55页 |
