无光源笔式射线照相缺陷测高仪的研发
| 郑重声明 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-12页 |
| 1．1 课题研究的意义 | 第9-10页 |
| 1．2 相关课题的国内外研究动向 | 第10-11页 |
| 1．3 课题的提出 | 第11-12页 |
| 2 系统的基本原理及背景光源的研究 | 第12-23页 |
| 2．1 系统的基本原理 | 第12-14页 |
| 2．2 背景光源的研究 | 第14-22页 |
| 2．2．1 第一档光源的均匀度测量 | 第16-18页 |
| 2．2．2 第二档光源的均匀度测量 | 第18-19页 |
| 2．2．3 第三档光源的均匀度测量 | 第19-21页 |
| 2．2．4 光源的随时间变化测量 | 第21-22页 |
| 2．3 本章小结 | 第22-23页 |
| 3 系统电路设计 | 第23-43页 |
| 3．1 信号采集电路实现 | 第23-33页 |
| 3．1．1 光电传感器的选择 | 第23-29页 |
| 3．1．2 光照度与光强度的关系研究 | 第29-31页 |
| 3．1．3 光信号采集电路设计 | 第31-33页 |
| 3．2．单片机的选择和外存储器扩展 | 第33-35页 |
| 3．2．1 微型单片机的选择 | 第33-35页 |
| 3．2．2 外部存储器的扩展 | 第35页 |
| 3．3 显示器键盘电路设计 | 第35-39页 |
| 3．3．1 显示器的选择及电路原理 | 第35-37页 |
| 3．3．2 键盘电路 | 第37-39页 |
| 3．4 电源的设计 | 第39-42页 |
| 3．4．1 稳压电路的设计与应用 | 第39-40页 |
| 3．4．2 电压变换 | 第40-41页 |
| 3．4．3 系统电源的整体设计 | 第41-42页 |
| 3．5 本章小节 | 第42-43页 |
| 4 系统的可靠性措施和误差校正 | 第43-55页 |
| 4．1 硬件电路的可靠性措施 | 第43-46页 |
| 4．1．1 复位电路设计 | 第43-45页 |
| 4．1．2 去耦电容的应用 | 第45-46页 |
| 4．1．3 印刷电路板设计 | 第46页 |
| 4．2 软件设计提高可靠性 | 第46页 |
| 4．3 系统误差校正设计 | 第46-54页 |
| 4．3．1 多项式拟合法校正系统固定误差 | 第47-51页 |
| 4．3．2 插值法校正系统非固定误差 | 第51-54页 |
| 4．4 本章小结 | 第54-55页 |
| 5 整体结构设计 | 第55-60页 |
| 5．1 笔式探头设计 | 第55-57页 |
| 5．2 机体设计 | 第57-59页 |
| 5．3 本章小结 | 第59-60页 |
| 6 实验验证 | 第60-64页 |
| 6．1 仪器测量误差验证 | 第60-62页 |
| 6．2 测量的重复性试验 | 第62-64页 |
| 7 结论 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 附录1 (攻读学位期间发表论文目录) | 第71-72页 |
| 附录2 (系统电路板PCB图) | 第72页 |
