微处理器随机测试程序生成器研究与实现
| 第1章 前言 | 第1-22页 |
| ·课题来源和意义 | 第7-8页 |
| ·国际国内研究状况和进展 | 第8-21页 |
| ·基于指令树方法的测试程序生成 | 第8-11页 |
| ·基于约束满足问题的测试程序生成 | 第11-14页 |
| ·基于遗传算法的测试程序生成 | 第14-17页 |
| ·基于巴科斯-瑙尔范式(BNF)的测试程序生成 | 第17-21页 |
| ·论文各部分的主要内容 | 第21-22页 |
| 第2章 测试环境 | 第22-33页 |
| ·MIPS 4KC简介 | 第22-29页 |
| ·4KC流水线结构 | 第22-24页 |
| ·高速缓存(CACHE) | 第24-25页 |
| ·内存管理单元(MMU) | 第25-27页 |
| ·协处理器0(CP0)的组织和结构 | 第27页 |
| ·MIPS 4KC指令集简介 | 第27-29页 |
| ·随机测试环境 | 第29-33页 |
| ·验证方法综述 | 第29-31页 |
| ·随机测试环境 | 第31-33页 |
| 第3章 随机测试程序简介 | 第33-39页 |
| ·随机测试程序的产生方法综述 | 第33页 |
| ·测试程序的要求 | 第33-35页 |
| ·测试程序的结构 | 第35-39页 |
| ·程序段的代码结构 | 第35-36页 |
| ·自检查的测试程序 | 第36-39页 |
| 第4章 随机测试程序生成器 | 第39-61页 |
| ·系统框架 | 第39-41页 |
| ·用户界面 | 第41-43页 |
| ·指令库构造 | 第43-48页 |
| ·指令模板的数据结构 | 第43-45页 |
| ·指令的分类 | 第45-46页 |
| ·指令的覆盖率分析 | 第46-48页 |
| ·资源模块 | 第48-51页 |
| ·寄存器堆模块 | 第48-49页 |
| ·内存模块 | 第49-50页 |
| ·CACHE模块 | 第50-51页 |
| ·状态机模块 | 第51-56页 |
| ·旁路(Bypass)状态机 | 第51-53页 |
| ·数据Cache状态机 | 第53-56页 |
| ·对跳转指令的支持 | 第56-58页 |
| ·测试程序生成过程 | 第58-61页 |
| 第5章 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢、声明 | 第64-65页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第65页 |
