| 第一章 引言 | 第1-12页 |
| 第二章 实验 | 第12-15页 |
| ·薄膜沉积和热处理所用仪器设备 | 第12-13页 |
| ·主要实验试剂 | 第13页 |
| ·测试仪器设备及测试条件 | 第13页 |
| ·衬底清洗 | 第13-14页 |
| ·薄膜制备 | 第14页 |
| ·薄膜的热处理 | 第14-15页 |
| 第三章 结果和讨论 | 第15-33页 |
| ·ZnSe薄膜的特性 | 第15-21页 |
| ·薄膜的结构和物相 | 第15-16页 |
| ·薄膜的光学性质 | 第16-18页 |
| ·热处理对薄膜性能的影响 | 第18-21页 |
| ·结论 | 第21页 |
| ·CdSe薄膜的特性 | 第21-27页 |
| ·薄膜的结构和物相 | 第21-22页 |
| ·薄膜的光学性质 | 第22-24页 |
| ·热处理对薄膜性能的影响 | 第24-27页 |
| ·结论 | 第27页 |
| ·(Zn，Cd)Se薄膜的特性 | 第27-33页 |
| ·薄膜的结构和物相 | 第27-28页 |
| ·薄膜的光学性质 | 第28-29页 |
| ·热处理对薄膜性能的影响 | 第29-32页 |
| ·结论 | 第32-33页 |
| 参考文献 | 第33-37页 |