| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-8页 |
| 第一章 亚微米级颗粒粒度光散射法测试技术概述 | 第8-14页 |
| §1．1 亚微米级颗粒粒度测试的重要性 | 第8页 |
| §1．2 亚微米级颗粒粒度测试的非光散射法测试技术 | 第8-9页 |
| §1．3 光散射法对亚微米级颗粒粒度测试的意义及技术现状 | 第9-13页 |
| §1．3．1 经过修正的衍射法测粒技术 | 第10页 |
| §1．3．2 光子相关光谱法（PCS） | 第10-11页 |
| §1．3．3 光全散射法 | 第11-13页 |
| §1．4 本章小结 | 第13-14页 |
| 第二章 颗粒的散射理论 | 第14-22页 |
| §2．1 颗粒散射的一般理论 | 第14页 |
| §2．2 Mie散射理论简介 | 第14-21页 |
| §2．3 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 基于夫朗和费衍射的颗粒尺寸测量原理及其局限性 | 第22-30页 |
| §3．1 单个粒子散射光强分布函数 | 第22-24页 |
| §3．2 颗粒群散射光能分布函数及其尺寸分布的计算 | 第24-27页 |
| §3．3 夫朗和费衍射测量技术的局限性 | 第27-29页 |
| §3．3．1 夫朗和费衍射的适用条件 | 第27-28页 |
| §3．3．2 夫朗和费衍射粒度仪的系统局限性 | 第28-29页 |
| §3．4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 对原有系统的结构改进和功能扩展 | 第30-40页 |
| §4．1 透镜的傅立叶变换和反傅立叶变换 | 第30-35页 |
| §4．2 夫朗和费衍射系统的改进——反傅立叶变换技术 | 第35-36页 |
| §4．3 夫朗和费衍射系统光散射信号接收范围的扩展——侧向光电探测器 | 第36-39页 |
| §4．4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第五章 实验系统的设计 | 第40-62页 |
| §5．1 大角度侧向光散射信号接收系统的组成 | 第40-47页 |
| §5．1．1 光纤传感器 | 第41-43页 |
| §5．1．2 高灵敏度光电探测器CCD | 第43-47页 |
| §5．2 颗粒光散射信号的探测 | 第47-54页 |
| §5．2．1 数据采集卡DAQ | 第47-49页 |
| §5．2．2 信号采集系统软件设计 | 第49-52页 |
| §5．2．3 光纤传感器输出端在CCD上的位置确定 | 第52-54页 |
| §5．3 系统稳定性测试 | 第54-57页 |
| §5．3．1 CCD性能的测试 | 第54-56页 |
| §5．3．2 底板信号的测试 | 第56-57页 |
| §5．3．3 系统工作稳定性测试 | 第57页 |
| §5．4 有关数据处理的系统软件设计 | 第57-61页 |
| §5．5 本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 大角度侧向光散射的探索实验 | 第62-70页 |
| §6．1 浓度对侧向散射光能量和跳动量的影响 | 第62-63页 |
| §6．2 颗粒粒径大小与散射光能量和能量跳动量的关系 | 第63-68页 |
| §6．3 本章小结 | 第68-70页 |
| 第七章 全文总结 | 第70-72页 |
| §7．1 本文的工作 | 第70-71页 |
| §7．2 今后的工作 | 第71-72页 |
| 参加科研项目工作和发表的文章 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
