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微粒场全息术理论、应用及微粒全息图的自动分析

第一章 绪论第1-11页
 §1.1 工程背景及发展概况第7-8页
 §1.2 课题研究的学术思想及本文的主要工作第8-11页
第二章 微粒场基本全息术理论第11-38页
 §2.1 微粒场同轴基本全息术理论第11-16页
  2.1.1 同轴全息记录光路的一般模型第11页
  2.1.2 同轴全息图的形成第11-13页
  2.1.3 同轴全息图的再现第13-16页
 §2.2 微粒场离轴基本全息术理论第16-20页
  2.2.1 离轴全息记录光路的一般模型第16页
  2.2.2 离轴全息图的形成第16-18页
  2.2.3 离轴全息图的再现第18-20页
 §2.3 微粒场基本全息术记录过程中的基本问题讨论第20-31页
  2.3.1 全息图的有限孔径效应及象差第20页
  2.3.2 全息记录介质的分辨率要求第20-23页
   一 同轴全息对记录介质的分辨率要求第20-21页
   二 离轴全息对记录介质的分辨率要求第21-23页
  2.3.3 全息图的条纹对比度第23-24页
   一 同轴全息图的条纹对比度第23页
   二 离轴全息图的条纹对比度第23-24页
  2.3.4 全息图的可记录场深第24-28页
   一 限制全息图的可记录场深的物理原因第24页
   二 同轴全息图的可记录场深第24-27页
   三 离轴全息图的可记录场深第27-28页
  2.3.5 允许的最大位移第28-31页
   一 同轴全息允许的最大位移第28-30页
   二 离轴全息允许的最大位移第30-31页
 §2.4 微粒场基本全息术再现过程中的基本问题讨论第31-33页
  2.4.1 再现象的放大率第31-32页
   一 同轴全息再现实象的放大率第31-32页
   二 离轴全息再现实象的放大率第32页
  2.4.2 再现象的对比度第32-33页
   一 同轴全息再现实象的对比度第32-33页
   二 离轴全息再现实象的对比度第33页
 §2.5 小结第33-38页
第三章 微粒场滤波全息术理论第38-62页
 §3.1 微粒场同轴滤波全息术理论第38-48页
  3.1.1 同轴滤波全息图的形成第38-42页
  3.1.2 同轴滤波全息图的再现第42-48页
 §3.2 微粒场离轴滤波全息术理论第48-51页
  3.2.1 离轴滤波全息图的形成第48页
  3.2.2 离轴滤波全息图的再现第48-51页
 §3.3 微粒场滤波全息术记录过程中的基本问题讨论第51-58页
  3.3.1 全息记录介质的分辨率要求第51-52页
   一 同轴滤波全息对记录介质的分辨率要求第51-52页
   二 离轴滤波全息对记录介质的分辨率要求第52页
  3.3.2 滤波全息图的条纹对比度第52-54页
   一 同轴滤波全息图的条纹对比度第52-53页
   二 离轴滤波全息图的条纹对比度第53-54页
  3.3.3 滤波全息图的可记录场深第54-55页
   一 同轴滤波全息图的可记录场深第54-55页
   二 离轴滤波全息图的可记录场深第55页
  3.3.4 允许的最大位移第55-58页
   一 同轴滤波全息允许的最大位移第55-57页
   二 离轴滤波全息允许的最大位移第57-58页
 §3.4 微粒场滤波全息术再现过程中的基本问题讨论第58-60页
  3.4.1 再现象的放大率第58页
   一 同轴滤波全息再现象的放大率第58页
   二 离轴滤波全息再现象的放大率第58页
  3.4.2 再现象的对比度第58-60页
   一 同轴滤波全息再现象的对比度第59页
   二 离轴滤波全息再现象的对比度第59-60页
 §3.5 滤波器参数选择第60页
 §3.6 小结第60-62页
第四章 微粒场相移全息术理论第62-69页
 §4.1 微粒场离轴相移全息术理论第62-65页
  4.1.1 离轴相移全息图的形成第62-63页
  4.1.2 离轴相移全息图的再现第63-65页
 §4.2 微粒场相移全息术记录过程中的基本问题讨论第65-67页
  4.2.1 全息记录介质的分辨率要求第65页
  4.2.2 离轴相移全息图的条纹对比度第65-66页
  4.2.3 育轴相移全息图的可记录场深第66-67页
  4.2.4 允许的最大位移第67页
 §4.3 微粒场相移全息术再现过程中的基本问题讨论第67页
  4.3.1 离轴相移全息再现象的放大率第67页
  4.3.2 离轴相移全息再现象的对比度第67页
 §4.4 小结第67-69页
第五章 微粒场双曝光全息术理论第69-82页
 §5.1 微粒场双曝光基本全息术理论第69-73页
  5.1.1 同轴双曝光基本全息术理论第69-72页
   一 同轴双曝光全息图的形成第69-70页
   二 同轴双曝光全息图的再现第70-72页
  5.1.2 离轴双曝光基本全息术理论第72-73页
   一 离轴双曝光全息图的形成第72页
   二 离轴双曝光全息图的再现第72-73页
 §3.2 微粒场双曝光滤波全息术理论第73-78页
  3.2.1 同轴双曝光滤波全息术理论第73-76页
   一 同轴双曝光滤波全息图的形成第73-75页
   二 同轴双曝光滤波全息图的再现第75-76页
  5.2.2 离轴双曝光滤波全息术理论第76-78页
   一 离轴双曝光滤波全息图的形成第76-77页
   二 离轴双曝光滤波全息图的再现第77-78页
 §5.3 微粒场双曝光相移全息术理论第78-80页
  5.3.1 离轴双曝光相移全息图的形成第78页
  5.3.2 离轴双曝光相移全息图的再现第78-79页
  5.3.3 双曝光相移全息术对相移器的要求及应用前景第79-80页
 §5.4 小结第80-82页
第六章 固体火箭推进剂燃烧的实验研究第82-98页
 §6.1 问题的背景与全息记录方法的选择第82页
 §6.2 全息记录系统设计第82-84页
  6.2.1 系统设计中的问题考虑第82-83页
  6.2.2 系统参数估计第83-84页
  6.2.3 系统的全息分辨率第84页
 §6.3 固体推进剂燃烧的全息实验研究第84-86页
  6.3.1 实验设备简介第84-85页
  6.3.2 固体推进剂燃烧表面区的实验研究第85-86页
  6.3.3 固体推进剂燃烧微粒场的实验研究第86页
 §6.4 固体推进剂燃烧微粒场全息图的分析第86-87页
 §6.5 小结第87-98页
第七章 微粒全息图自动分析系统的开发第98-117页
 §7.1 系统硬件结构第98页
 §7.2 微粒图象的自动分析第98-104页
  7.2.1 微粒图象的平滑滤波第98-99页
  7.2.2 两级阀值的自动设置和两步二值化过程第99-101页
  7.2.3 微粒的自动判焦第101页
  7.2.4 微粒参数测量第101-102页
  7.2.5 微粒参数分布统计第102-103页
  7.2.6 微粒速度测量第103-104页
 §7.3 系统软件简介第104页
 §7.4 系统标定第104-105页
 §7.5 自动分析系统的测试第105页
 §7.6 固体推进剂燃烧微粒场全息图的自动分析第105-106页
 §7.7 小结第106-117页
第八章 总结第117-118页
致谢第118-119页
参考文献第119-124页

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