基于APD的光子计数成像系统的开发与实验研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-13页 |
| ·光子计数成像技术原理 | 第7-8页 |
| ·光子计数成像的发展 | 第8-11页 |
| ·论文的研究背景 | 第11-12页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第12-13页 |
| 2 APD探测原理及其特性研究 | 第13-22页 |
| ·单光子探测器概述 | 第13-17页 |
| ·光电倍增管 | 第13-14页 |
| ·电荷耦合器件(CCD) | 第14-15页 |
| ·雪崩光电二极管 | 第15-17页 |
| ·APD探测器的性能参数 | 第17-19页 |
| ·暗计数 | 第17-18页 |
| ·时间分辨率 | 第18页 |
| ·响应度 | 第18-19页 |
| ·死时间 | 第19页 |
| ·APD探测器的工作模式 | 第19-22页 |
| ·被动抑制电路 | 第20页 |
| ·主动抑制电路 | 第20-21页 |
| ·门脉冲抑制电路 | 第21-22页 |
| 3 光子计数成像仿真 | 第22-35页 |
| ·光子的基本特性 | 第22-23页 |
| ·光的粒子性 | 第22页 |
| ·测不准关系 | 第22-23页 |
| ·光的反射特性 | 第23-27页 |
| ·光子计数成像仿真 | 第27-34页 |
| ·仿真模型 | 第27-30页 |
| ·仿真流程 | 第30-31页 |
| ·仿真结果 | 第31-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 4 APD光子计数成像系统 | 第35-50页 |
| ·系统硬件组成 | 第35-45页 |
| ·APD单光子计数器 | 第37-40页 |
| ·二维电控平台 | 第40-41页 |
| ·光纤 | 第41-45页 |
| ·系统软件设计 | 第45-50页 |
| ·软件开发环境 | 第45-46页 |
| ·软件开发流程 | 第46-50页 |
| 5 APD光子计数成像实验 | 第50-58页 |
| ·系统参数测试 | 第50-52页 |
| ·暗计数 | 第50-51页 |
| ·灰度响应 | 第51-52页 |
| ·光子计数成像实验 | 第52-58页 |
| ·实验流程 | 第52-54页 |
| ·不同照度下的成像 | 第54-56页 |
| ·分辨率测试 | 第56-58页 |
| 6 总结和展望 | 第58-60页 |
| ·论文总结 | 第58页 |
| ·研究展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
