电子元器件散粒噪声特性及测试方法研究

摘要	第1-4页
Abstract	第4-8页
第一章 绪论	第8-10页
·研究背景	第8-9页
·全文内容安排	第9-10页
第二章 散粒噪声特性	第10-16页
·散粒噪声研究历史与分类	第10-11页
·散粒噪声的频域特性	第11-13页
·散粒噪声的时域特性及影响因素	第13-16页
第三章 电子元器件散粒噪声产生机理与模型	第16-34页
·电子元器件散粒噪声产生机理	第16-29页
·短沟道MOSFET 散粒噪声	第16-22页
·二极管散粒噪声	第22-25页
·电阻器散粒噪声	第25-29页
·其他器件中的散粒噪声	第29页
·散粒噪声扩散-漂移模型	第29-31页
·散粒噪声在器件可靠性表征中的应用探索	第31-33页
·小结	第33-34页
第四章 散粒噪声测试方法	第34-56页
·噪声测试方法与仪器	第34-37页
·基于超导量子干涉器件的噪声测试方法	第34-35页
·双通道噪声测试技术	第35-36页
·传统的噪声测试方法	第36-37页
·散粒噪声测试系统设计	第37-47页
·测试系统设计	第37-41页
·散粒噪声测试规范	第41-44页
·噪声测试注意事项	第44-47页
·散粒噪声测试系统验证	第47-50页
·测试系统热噪声抑制验证	第47-48页
·测试系统背景噪声验证	第48-49页
·低频噪声干扰去除验证	第49-50页
·短沟道MOSFET 散粒噪声测试	第50-53页
·实验方案设计	第50页
·测试数据及分析	第50-53页
·肖特基二极管散粒噪声测试	第53-55页
·实验方案设计	第53页
·测试数据及分析	第53-55页
·小结	第55-56页
第五章 结论与展望	第56-58页
·主要研究工作及结论	第56页
·展望	第56-58页
致谢	第58-60页
参考文献	第60-63页
在研期间成果	第63-64页