| 中文摘要 | 第4-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-29页 |
| §1.1 研究背景 | 第12-19页 |
| 1.1.1 超导材料的发展历程简介 | 第12-16页 |
| 1.1.2 超导材料的物理特性 | 第16-17页 |
| 1.1.3 实用超导材料的制备 | 第17-18页 |
| 1.1.4 超导材料的应用及其存在的问题 | 第18-19页 |
| §1.2 研究现状 | 第19-27页 |
| 1.2.1 超导材料交流损耗实验方法简介 | 第20-25页 |
| 1.2.2 超导材料交流损耗实验测量所面临的主要问题 | 第25-27页 |
| §1.3 本文主要内容 | 第27-29页 |
| 第二章 交流损耗实验测试系统 | 第29-41页 |
| §2.1 超导体临界电流测试系统 | 第29-31页 |
| 2.1.1 实验测试原理及测试系统构成 | 第29页 |
| 2.1.2 主要测试仪器及其性能指标 | 第29-31页 |
| §2.2 绝热测温升法实验测试系统 | 第31-36页 |
| 2.2.1 实验测试原理及测试系统构成 | 第31-32页 |
| 2.2.2 主要测试仪器及其性能指标 | 第32-34页 |
| 2.2.3 实验测试过程及其注意事项 | 第34-36页 |
| §2.3 电测法实验测试系统 | 第36-39页 |
| 2.3.1 实验测试原理及测试系统构成 | 第36页 |
| 2.3.2 主要测试仪器及其性能指标 | 第36-38页 |
| 2.3.3 实验测试过程及其注意事项 | 第38-39页 |
| §2.4 绝热测温升法和电测法实验结果比较 | 第39-40页 |
| §2.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第三章 绝热测温升法实验误差研究 | 第41-59页 |
| §3.1 YBCO涂层导体伏安特性曲线研究 | 第41-47页 |
| 3.1.1. YBCO涂层导体临界电流随电流加载速度的变化 | 第41-42页 |
| 3.1.2. YBCO涂层导体电阻随着电流和时间的变化 | 第42-45页 |
| 3.1.3. YBCO涂层导体电压不稳定性对样品温度的影响 | 第45-47页 |
| §3.2 绝热测温升法的实验参数研究 | 第47-51页 |
| §3.3 绝热测温升法的实验误差研究 | 第51-57页 |
| §3.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 第四章 绝热测温升法的应用 | 第59-76页 |
| §4.1 YBCO涂层导体焊接接头交流损耗测试 | 第59-65页 |
| 4.1.1 实验样品的准备 | 第59-60页 |
| 4.1.2 YBCO涂层导体焊接接头电阻 | 第60-61页 |
| 4.1.3 YBCO涂层导体带材和接头的校正曲线及其交流损耗 | 第61-63页 |
| 4.1.4 YBCO焊接接头和带材交流损耗的比较 | 第63-65页 |
| §4.2 YBCO涂层导体焊接接头电流分布研究 | 第65-73页 |
| 4.2.1 实验样品 | 第65页 |
| 4.2.2 实验测试原理 | 第65-67页 |
| 4.2.3 实验方案 | 第67-68页 |
| 4.2.4 实验结果 | 第68-70页 |
| 4.2.5 理论模型的建立及其与实验结果的比较 | 第70-73页 |
| §4.3 YBCO涂层导体在不同排布方式下的交流损耗测试 | 第73-74页 |
| §4.4 本章小结 | 第74-76页 |
| 第五章 绝热测温升法的扩展及其在含裂纹超导带材交流损耗测试中的应用 | 第76-91页 |
| §5.1 含裂纹和完整超导样品交流损耗测试比较 | 第76-78页 |
| 5.1.1 含裂纹超导样品交流损耗特征 | 第76-77页 |
| 5.1.2 含裂纹和完整超导样品交流损耗特征对比 | 第77-78页 |
| §5.2 绝热测温升实验方法的扩展 | 第78-85页 |
| 5.2.1 实验测试原理 | 第78页 |
| 5.2.2 测试原理的理论证明 | 第78-80页 |
| 5.2.3 实验测试原理的实验验证 | 第80-85页 |
| §5.3 含裂纹YBCO涂层导体交流损耗绝热测温升法实验研究 | 第85-89页 |
| 5.3.1 含裂纹YBCO涂层导体交流损耗测试方案 | 第85-86页 |
| 5.3.2 SCS6050完整带材的交流损耗测试结果 | 第86-87页 |
| 5.3.3 含裂纹SCS6050涂层导体交流损耗测试结果 | 第87-88页 |
| 5.3.4 含裂纹和完整SCS6050涂层导体交流损耗测试结果比较 | 第88-89页 |
| §5.4 本章小结 | 第89-91页 |
| 第六章 电测法在超导材料受横向压力和含裂纹时交流损耗测试中的应用 | 第91-98页 |
| §6.1 电测法在超导材料受横向压力交流损耗测试中的应用 | 第91-94页 |
| 6.1.1 实验测试装置及过程 | 第91-92页 |
| 6.1.2 实验测试结果及讨论 | 第92-94页 |
| §6.2 电测法在含裂纹超导材料交流损耗测试中的应用 | 第94-97页 |
| 6.2.1 含裂纹YBCO涂层导体交流损耗测试 | 第94-96页 |
| 6.2.2 含裂纹Bi2223/Ag超导带交流损耗测试 | 第96-97页 |
| §6.3 本章小结 | 第97-98页 |
| 第七章 结束语 | 第98-101页 |
| 参考文献 | 第101-116页 |
| 在学期间的研究成果 | 第116-117页 |
| 致谢 | 第117页 |
