| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-12页 |
| ·不同绝缘子积污特性的研究背景 | 第11页 |
| ·本文主要内容概述 | 第11-12页 |
| 第二章 绝缘子污闪机理 | 第12-24页 |
| ·绝缘子积污 | 第12-14页 |
| ·绝缘子的性能与特点分析 | 第14-16页 |
| ·绝缘子污闪机理 | 第16-18页 |
| ·绝缘子污秽物在污、湿环境中的辐射特性 | 第18-20页 |
| ·绝缘子污秽与泄漏电流的关系 | 第20-22页 |
| ·时域特征量分析法 | 第20-21页 |
| ·频域特征量分析法 | 第21-22页 |
| ·绝缘子污闪的防治措施 | 第22-24页 |
| 第三章 不同型式绝缘子积污特性的研究 | 第24-32页 |
| ·不同型式绝缘子积污特性研究工作的开展 | 第24页 |
| ·绝缘子污秽度检测方法 | 第24-27页 |
| ·不同型式绝缘子盐密测试结果的分析 | 第27-30页 |
| ·XWP 型绝缘子与XP 型绝缘子的积污特性 | 第27-28页 |
| ·FC70P型绝缘子与XP型绝缘子的积污特性 | 第28-29页 |
| ·FC160型绝缘子与XP型绝缘子的积污特性 | 第29-30页 |
| ·FC70P型绝缘子与XWP型绝缘子的积污特性 | 第30页 |
| ·盐密和灰密的关系 | 第30-32页 |
| 第四章 不同型式绝缘子污秽特性的研究 | 第32-46页 |
| ·被试绝缘子的准备 | 第33-35页 |
| ·试品尺寸 | 第33页 |
| ·绝缘子预处理 | 第33页 |
| ·污秽物的称量与涂刷 | 第33-34页 |
| ·绝缘子串的布置 | 第34-35页 |
| ·试验方法 | 第35-36页 |
| ·50％耐受电压的测定程序 | 第35页 |
| ·单次试验程序 | 第35-36页 |
| ·数据处理及分析 | 第36-46页 |
| ·XWP2-160型绝缘子人工污秽工频耐受电压特性 | 第36-40页 |
| ·FC-160P/155型绝缘子人工污秽耐受电压特性 | 第40-45页 |
| ·数据分析 | 第45-46页 |
| 第五章 全文工作总结及下步工作展望 | 第46-48页 |
| ·总结 | 第46-47页 |
| ·下步工作展望 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第50-51页 |