基于BTS的嵌入式软件测试技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| ·课题背景 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状及分析 | 第9-10页 |
| ·国内外软件测试发展 | 第9页 |
| ·业界软件测试发展现状 | 第9-10页 |
| ·论文研究主要内容 | 第10-12页 |
| 第2章 BTS 硬件及软件架构 | 第12-18页 |
| ·概述 | 第12页 |
| ·BTS 侧信号流程 | 第12-13页 |
| ·三层平台层次划分 | 第13-16页 |
| ·BTS 测试方案 | 第16-17页 |
| ·嵌入式软件开发流程 | 第16-17页 |
| ·BTS 测试方案 | 第17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第3章 嵌入式软件测试 | 第18-26页 |
| ·概述 | 第18页 |
| ·测试流程 | 第18-19页 |
| ·测试策略 | 第19-21页 |
| ·静态测试 | 第19-20页 |
| ·动态测试 | 第20-21页 |
| ·测试评测 | 第21-24页 |
| ·评价指标 | 第21-23页 |
| ·BTS 测试评价方法 | 第23-24页 |
| ·提高测试效率 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第4章 TEmb 方法运用于改进的V 模型 | 第26-36页 |
| ·传统V 模型 | 第26-29页 |
| ·传统V 模型描述 | 第26-28页 |
| ·传统V 模型缺陷 | 第28-29页 |
| ·改进的V 模型 | 第29-32页 |
| ·改进的V 模型描述 | 第29-30页 |
| ·改进V 模型的特点 | 第30-32页 |
| ·TEmb 方法通用元素 | 第32-34页 |
| ·TEmb 方法通用元素与改进V 模型结合 | 第34-35页 |
| ·Temb 与改进V 模型应用于BTS | 第35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第5章 典型案例分析 | 第36-46页 |
| ·基本环境准备 | 第36-37页 |
| ·性能测试案例 | 第37-41页 |
| ·SCTP 性能测试背景 | 第37页 |
| ·SmartBits 测试工具 | 第37-38页 |
| ·测试基本流程 | 第38-39页 |
| ·测试结果及分析 | 第39-41页 |
| ·回归测试案例 | 第41-45页 |
| ·回归测试 | 第41-42页 |
| ·告警过滤单板不进行故障点灯测试 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 结论 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
