| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 本文研究背景与意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-16页 |
| 1.2.1 裂纹扩展问题的研究概述 | 第13-14页 |
| 1.2.2 可靠性及其灵敏度的研究概述 | 第14页 |
| 1.2.3 贝叶斯更新研究概述 | 第14-16页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 基础理论 | 第18-34页 |
| 2.1 线弹性断裂力学基础 | 第18-23页 |
| 2.1.1 断裂模式 | 第18-19页 |
| 2.1.2 应力强度因子及断裂准则 | 第19-20页 |
| 2.1.3 裂纹裂尖场 | 第20-21页 |
| 2.1.4 相互作用积分法 | 第21-23页 |
| 2.2 扩展有限元法基础 | 第23-26页 |
| 2.2.1 单位分解法 | 第23-24页 |
| 2.2.2 水平集法 | 第24-25页 |
| 2.2.3 扩充形函数 | 第25-26页 |
| 2.3 可靠性及其灵敏度分析方法 | 第26-32页 |
| 2.3.1 改进一次二阶矩法 | 第26-30页 |
| 2.3.2 蒙特卡洛方法 | 第30-32页 |
| 2.3.3 可靠性灵敏度的无量纲化 | 第32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-34页 |
| 第3章 裂纹平板的静态可靠性及其灵敏度 | 第34-54页 |
| 3.1 含裂纹平板的扩展有限元模型 | 第34-38页 |
| 3.1.1 裂纹平板的物理模型 | 第34-36页 |
| 3.1.2 XFEM计算应力强度因子 | 第36-38页 |
| 3.2 裂纹板应力强度因子影响因素分析 | 第38-44页 |
| 3.2.1 无孔洞的裂纹平板 | 第38-39页 |
| 3.2.2 含单孔洞的裂纹平板 | 第39-44页 |
| 3.3 Kriging代理模型 | 第44-47页 |
| 3.3.1 基本理论 | 第44-45页 |
| 3.3.2 精度验证 | 第45-47页 |
| 3.4 裂纹平板静态可靠性及其灵敏度分析 | 第47-52页 |
| 3.4.1 无孔洞的裂纹平板 | 第47-49页 |
| 3.4.2 含单孔洞的裂纹平板 | 第49-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第4章 裂纹平板的动态渐变可靠性及其灵敏度 | 第54-64页 |
| 4.1 裂纹扩展基础 | 第54-57页 |
| 4.1.1 经典Paris模型 | 第54-55页 |
| 4.1.2 XFEM计算裂纹扩展长度 | 第55-57页 |
| 4.2 孔洞与裂纹相互作用对裂纹扩展影响 | 第57-58页 |
| 4.2.1 孔洞半径 | 第57页 |
| 4.2.2 孔洞位置 | 第57-58页 |
| 4.3 裂纹平板动态渐变可靠性及其灵敏度分析 | 第58-63页 |
| 4.3.1 无孔洞裂纹平板 | 第59-61页 |
| 4.3.2 含单孔洞裂纹平板 | 第61-63页 |
| 4.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 第5章 贝叶斯更新 | 第64-84页 |
| 5.1 贝叶斯推断基础 | 第64-67页 |
| 5.1.1 贝叶斯定理 | 第64-65页 |
| 5.1.2 先验分布 | 第65-66页 |
| 5.1.3 似然函数 | 第66-67页 |
| 5.2 MCMC算法 | 第67-70页 |
| 5.2.1 Metropolis-Hastings算法实施过程 | 第67-68页 |
| 5.2.2 DRAM算法实施过程 | 第68-70页 |
| 5.3 裂纹平板的静态可靠性及其灵敏度贝叶斯更新 | 第70-76页 |
| 5.3.1 孔洞半径后验分布更新 | 第70-72页 |
| 5.3.2 裂纹初始长度后验分布更新 | 第72-73页 |
| 5.3.3 静态可靠性及其灵敏度更新 | 第73-76页 |
| 5.4 裂纹平板的动态渐变可靠性贝叶斯更新 | 第76-83页 |
| 5.4.1 疲劳扩展性能参数后验分布更新 | 第76-81页 |
| 5.4.2 裂纹扩展变化曲线更新 | 第81-82页 |
| 5.4.3 动态渐变可靠性更新 | 第82-83页 |
| 5.5 本章小结 | 第83-84页 |
| 第6章 结论与展望 | 第84-88页 |
| 6.1 结论 | 第84-85页 |
| 6.2 展望 | 第85-88页 |
| 参考文献 | 第88-94页 |
| 致谢 | 第94页 |