微波上下变频产品测试系统的设计与实现
摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 课题研究背景与意义 | 第10页 |
1.2 国内外研究趋势与现状 | 第10-16页 |
1.3 本文工作安排 | 第16页 |
1.4 论文内容及结构安排 | 第16-18页 |
第二章 相关软件硬件开发技术介绍 | 第18-33页 |
2.1 自动化测试系统面临的挑战及解决方案 | 第18-21页 |
2.1.1 自动化测试系统面临的设计挑战 | 第18-19页 |
2.1.2 自动化测试系统的解决方案 | 第19-21页 |
2.2 通信接口 | 第21-29页 |
2.2.1 LVDS | 第21-24页 |
2.2.2 M-LVDS | 第24-27页 |
2.2.3 CAN | 第27-29页 |
2.3 微波上下变频产品相关射频指标概述 | 第29-31页 |
2.3.1 功率和最大输出功率 | 第29页 |
2.3.2 谐波和谐波抑制 | 第29-30页 |
2.3.3 杂波和杂波抑制 | 第30页 |
2.3.4 带内波动 | 第30页 |
2.3.5 1dB压缩点 | 第30-31页 |
2.3.6 数控衰减 | 第31页 |
2.4 C | 第31页 |
2.5 本章小结 | 第31-33页 |
第三章 系统需求分析 | 第33-40页 |
3.1 自动测试软件需求分析 | 第33-35页 |
3.2 测试夹具需求分析 | 第35-37页 |
3.3 自动测试系统测试资源需求分析 | 第37-38页 |
3.4 本章小结 | 第38-40页 |
第四章 系统架构与功能设计 | 第40-64页 |
4.1 系统架构设计 | 第40-41页 |
4.2 系统功能设计 | 第41-63页 |
4.2.1 测试夹具功能设计 | 第42-49页 |
4.2.2 自动测试软件功能设计 | 第49-55页 |
4.2.3 常见指标测试的开发与实现 | 第55-63页 |
4.3 本章小结 | 第63-64页 |
第五章 总结及展望 | 第64-66页 |
5.1 本文工作总结 | 第64-65页 |
5.2 后续工作展望 | 第65-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-69页 |