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TD-LTE与LTE FDD系统间共存干扰分析研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第9-17页
    1.1 课题研究背景第9-13页
        1.1.1 LTE背景介绍第9-11页
        1.1.2 LTE发展动态第11-12页
        1.1.3 LTE系统频谱规划现状第12-13页
    1.2 共存研究的现状和技术标准第13-15页
        1.2.1 共存研究的现状第13-14页
        1.2.2 共存研究的技术标准第14-15页
    1.3 研究内容及章节结构安排第15-17页
        1.3.1 主要研究内容第15页
        1.3.2 章节结构安排第15-17页
第二章 LTE系统和共存干扰研究的理论基础第17-25页
    2.1 LTE系统第17-20页
        2.1.1 LTE系统简介第17-18页
        2.1.2 帧结构第18-20页
    2.2 干扰分析的理论基础第20-22页
        2.2.1 干扰机制第20-21页
        2.2.2 干扰表征方式第21-22页
    2.3 共存干扰研究的主要场景第22-23页
    2.4 本章小结第23-25页
第三章 共存干扰分析方法研究第25-33页
    3.1 共存干扰分析方法第25-27页
        3.1.1 确定性分析方法第25-26页
        3.1.2 系统级仿真第26页
        3.1.3 链路级仿真第26-27页
    3.2 链路级仿真软件介绍第27-29页
        3.2.1 常用软件第27-28页
        3.2.2 SystemVue介绍第28-29页
    3.3 研究方法第29-31页
        3.3.1 链路级仿真平台设计第29-30页
        3.3.2 研究方法的基本流程第30-31页
    3.4 本章小结第31-33页
第四章 TD-LTE与LTEFDD系统基站间共存干扰分析第33-61页
    4.1 仿真场景第33-37页
        4.1.1 LTEFDD基站干扰TD-LTE基站仿真场景第33-35页
        4.1.2 TD-LTE基站干扰LTEFDD基站仿真场景第35-37页
    4.2 仿真平台第37-38页
    4.3 仿真参数第38-40页
    4.4 仿真结果及分析第40-51页
        4.4.1 LTEFDD基站干扰TD-LTE基站仿真结果及分析第40-47页
        4.4.2 TD-LTE基站干扰LTEFDD基站仿真结果及分析第47-51页
    4.5 LTEFDD基站干扰TD-LTE基站外场测试第51-56页
        4.5.1 TD-LTE小区3测试结果第52-53页
        4.5.2 TD-LTE小区2测试结果第53-55页
        4.5.3 测试分析第55-56页
    4.6 TD-LTE与LTEFDD系统共存天线隔离度测试第56-60页
        4.6.1 测试结果及分析第57-59页
        4.6.2 测试结论第59-60页
    4.7 本章小结第60-61页
第五章 结论第61-63页
参考文献第63-67页
攻读学位期间所取得的相关科研成果第67-69页
致谢第69页

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