摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 课题研究背景 | 第9-13页 |
1.1.1 LTE背景介绍 | 第9-11页 |
1.1.2 LTE发展动态 | 第11-12页 |
1.1.3 LTE系统频谱规划现状 | 第12-13页 |
1.2 共存研究的现状和技术标准 | 第13-15页 |
1.2.1 共存研究的现状 | 第13-14页 |
1.2.2 共存研究的技术标准 | 第14-15页 |
1.3 研究内容及章节结构安排 | 第15-17页 |
1.3.1 主要研究内容 | 第15页 |
1.3.2 章节结构安排 | 第15-17页 |
第二章 LTE系统和共存干扰研究的理论基础 | 第17-25页 |
2.1 LTE系统 | 第17-20页 |
2.1.1 LTE系统简介 | 第17-18页 |
2.1.2 帧结构 | 第18-20页 |
2.2 干扰分析的理论基础 | 第20-22页 |
2.2.1 干扰机制 | 第20-21页 |
2.2.2 干扰表征方式 | 第21-22页 |
2.3 共存干扰研究的主要场景 | 第22-23页 |
2.4 本章小结 | 第23-25页 |
第三章 共存干扰分析方法研究 | 第25-33页 |
3.1 共存干扰分析方法 | 第25-27页 |
3.1.1 确定性分析方法 | 第25-26页 |
3.1.2 系统级仿真 | 第26页 |
3.1.3 链路级仿真 | 第26-27页 |
3.2 链路级仿真软件介绍 | 第27-29页 |
3.2.1 常用软件 | 第27-28页 |
3.2.2 SystemVue介绍 | 第28-29页 |
3.3 研究方法 | 第29-31页 |
3.3.1 链路级仿真平台设计 | 第29-30页 |
3.3.2 研究方法的基本流程 | 第30-31页 |
3.4 本章小结 | 第31-33页 |
第四章 TD-LTE与LTEFDD系统基站间共存干扰分析 | 第33-61页 |
4.1 仿真场景 | 第33-37页 |
4.1.1 LTEFDD基站干扰TD-LTE基站仿真场景 | 第33-35页 |
4.1.2 TD-LTE基站干扰LTEFDD基站仿真场景 | 第35-37页 |
4.2 仿真平台 | 第37-38页 |
4.3 仿真参数 | 第38-40页 |
4.4 仿真结果及分析 | 第40-51页 |
4.4.1 LTEFDD基站干扰TD-LTE基站仿真结果及分析 | 第40-47页 |
4.4.2 TD-LTE基站干扰LTEFDD基站仿真结果及分析 | 第47-51页 |
4.5 LTEFDD基站干扰TD-LTE基站外场测试 | 第51-56页 |
4.5.1 TD-LTE小区3测试结果 | 第52-53页 |
4.5.2 TD-LTE小区2测试结果 | 第53-55页 |
4.5.3 测试分析 | 第55-56页 |
4.6 TD-LTE与LTEFDD系统共存天线隔离度测试 | 第56-60页 |
4.6.1 测试结果及分析 | 第57-59页 |
4.6.2 测试结论 | 第59-60页 |
4.7 本章小结 | 第60-61页 |
第五章 结论 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第67-69页 |
致谢 | 第69页 |