| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第一章 前言 | 第13-29页 |
| 1.1 蛋白质芯片 | 第13-20页 |
| 1.1.1 蛋白质芯片的分类 | 第14-15页 |
| 1.1.2 蛋白质芯片载体的修饰 | 第15-18页 |
| 1.1.2.1 第一类二维表面修饰 | 第15-17页 |
| 1.1.2.2 第二类三维表面修饰 | 第17页 |
| 1.1.2.3 第三类有机聚合物芯片的表面构建 | 第17-18页 |
| 1.1.3 蛋白质芯片检测方法 | 第18-20页 |
| 1.1.3.1 荧光免疫法 | 第18页 |
| 1.1.3.2 酶联免疫吸附法 | 第18-19页 |
| 1.1.3.3 电化学免疫分析法 | 第19页 |
| 1.1.3.4 表面增强拉曼分析法 | 第19-20页 |
| 1.2 表面增强拉曼光谱简介 | 第20-24页 |
| 1.2.1 拉曼散射 | 第20-21页 |
| 1.2.2 表面增强拉曼散射 | 第21-22页 |
| 1.2.3 表面增强拉曼散射工作机理 | 第22-23页 |
| 1.2.3.1 电磁场增强机理（Electromagnetic mechanism, EM） | 第22-23页 |
| 1.2.3.2 化学增强机理（Chemical enhancement) | 第23页 |
| 1.2.4 基于表面增强拉曼散射的蛋白质研究进展 | 第23-24页 |
| 1.3 介孔SiO_2纳米颗粒的研究 | 第24-28页 |
| 1.3.1 介孔材料 | 第24-25页 |
| 1.3.2 SiO_2性质及应用 | 第25页 |
| 1.3.3 介孔SiO_2纳米颗粒制备方法 | 第25-26页 |
| 1.3.4 介孔SiO_2纳米颗粒薄膜的制备 | 第26-28页 |
| 1.4 选题目的及意义 | 第28-29页 |
| 第二章 尺寸可控的介孔SiO_2纳米颗粒的制备及生物相容性研究 | 第29-45页 |
| 2.1 介孔尺寸可控的SiO_2纳米颗粒的制备 | 第29-38页 |
| 2.1.1 引言 | 第29页 |
| 2.1.2 实验试剂及设备 | 第29-31页 |
| 2.1.3 实验过程 | 第31-32页 |
| 2.1.3.1 典型介孔SiO_2的制备 | 第31-32页 |
| 2.1.3.2 孔径及粒径可调控因素的研究 | 第32页 |
| 2.1.4 测试方法及表征手段 | 第32-33页 |
| 2.1.5 结果与讨论 | 第33-38页 |
| 2.1.5.1 典型介孔SiO_2的电镜分析 | 第33-34页 |
| 2.1.5.2 模板剂对孔径影响的电镜分析 | 第34-36页 |
| 2.1.5.3 其他因素对粒径及孔径的影响 | 第36-37页 |
| 2.1.5.4 氮气吸附脱附曲线分析 | 第37-38页 |
| 2.1.5.5 不同孔径介孔SiO_2的小角度XRD分析 | 第38页 |
| 2.2 介孔SiO_2载药性能及细胞毒性 | 第38-44页 |
| 2.2.1 引言 | 第38-39页 |
| 2.2.2 实验试剂及设备 | 第39页 |
| 2.2.3 实验过程 | 第39-40页 |
| 2.2.3.1 介孔SiO_2@DOX药物缓释 | 第39页 |
| 2.2.3.2 体外介孔SiO_2和SiO_2@DOX细胞毒性测试 | 第39-40页 |
| 2.2.4 测试方法及表征手段 | 第40页 |
| 2.2.5 结果与表征 | 第40-44页 |
| 2.2.5.1 介孔SiO_2的载药量 | 第40-41页 |
| 2.2.5.2 载药介孔SiO_2在不同pH条件下的释放 | 第41-43页 |
| 2.2.5.3 介孔SiO_2及其载药后体外细胞毒性 | 第43-44页 |
| 2.3 本章小结 | 第44-45页 |
| 第三章 介孔SiO_2修饰玻璃载体制备蛋白芯片 | 第45-57页 |
| 3.1 引言 | 第45页 |
| 3.2 实验试剂及设备 | 第45-46页 |
| 3.3 实验过程 | 第46-48页 |
| 3.3.1 不同条件下介孔SiO_2纳米颗粒膜的制备 | 第46-47页 |
| 3.3.1.1 玻片预处理 | 第46页 |
| 3.3.1.2 浸渍提拉法 | 第46-47页 |
| 3.3.1.3 LB法制备介孔SiO_2膜 | 第47页 |
| 3.3.2 蛋白质芯片的修饰 | 第47页 |
| 3.3.3 蛋白质固定率的测定 | 第47-48页 |
| 3.3.4 蛋白质反应性的测定 | 第48页 |
| 3.4 表征手段与测试方法 | 第48页 |
| 3.5 结果与讨论 | 第48-56页 |
| 3.5.1 介孔SiO_2膜的扫描电镜分析 | 第48-52页 |
| 3.5.1.1 浸渍提拉法制备膜的SEM图 | 第48-49页 |
| 3.5.1.2 亚相为氯仿，LB法制备膜的SiO_2的SEM图 | 第49-50页 |
| 3.5.1.3 亚相为超纯水，LB法制备膜的SiO_2的SEM图 | 第50-51页 |
| 3.5.1.4 介孔SiO_2膜压曲线 | 第51页 |
| 3.5.1.5 SiO_2经修饰后所得LB膜的SEM图 | 第51-52页 |
| 3.5.2 介孔SiO_2修饰玻片的蛋白质性能测试 | 第52-54页 |
| 3.5.3 不同介孔SiO_2修饰后的蛋白质固定率比较 | 第54-55页 |
| 3.5.4 不同介孔SiO_2修饰后的基底的信噪比的比较 | 第55-56页 |
| 3.6 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 具有增强效应的拉曼探针制备及表征 | 第57-95页 |
| 4.1 非标记Ag/TiO_2拉曼探针的制备及表征 | 第57-70页 |
| 4.1.1 引言 | 第57页 |
| 4.1.2 实验试剂及设备 | 第57-58页 |
| 4.1.3 实验过程 | 第58-59页 |
| 4.1.3.1 Ag@TiO_2纳米复合材料的制备 | 第58页 |
| 4.1.3.2 其他不同条件对Ag@TiO_2纳米复合材料的影响 | 第58-59页 |
| 4.1.3.3 Ag@TiO_2探针检测对巯基苯胺(4-ATP) | 第59页 |
| 4.1.3.4 Ag@TiO_2拉曼探针对 4-ATP溶液的检测限 | 第59页 |
| 4.1.4 测试方法及表征手段 | 第59-60页 |
| 4.1.5 结果与讨论 | 第60-70页 |
| 4.1.5.1 Ag/TiO_2纳米复合材料TEM图 | 第60-62页 |
| 4.1.5.2 不同温度对Ag/TiO_2的影响TEM图 | 第62-63页 |
| 4.1.5.3 不同温度对Ag/TiO_2的影响SEM图 | 第63-64页 |
| 4.1.5.4 Ag/TiO_2纳米复合材料XRD表征 | 第64-66页 |
| 4.1.5.5 N_2气吸附-脱附等温曲线 | 第66-67页 |
| 4.1.5.6 SERS性能测试 | 第67-69页 |
| 4.1.5.7 Ag@TiO_2拉曼探针对 4-ATP最低检测限分析 | 第69-70页 |
| 4.2 非标记SiO_2@Ag拉曼探针的制备及表征 | 第70-79页 |
| 4.2.1 引言 | 第70页 |
| 4.2.2 实验试剂及设备 | 第70页 |
| 4.2.3 实验过程 | 第70-71页 |
| 4.2.3.1 介孔SiO_2@Ag复合纳米材料前驱体的制备 | 第70页 |
| 4.2.3.2 其他不同条件对介孔SiO_2@Ag纳米复合材料的影响 | 第70-71页 |
| 4.2.3.3 不同还原条件下介孔SiO_2@Ag的制备 | 第71页 |
| 4.2.3.4 SiO_2@Ag探针检测 4-ATP | 第71页 |
| 4.2.3.5 不同还原条件下SiO_2@Ag拉曼探针对 4-ATP溶液的检测限 | 第71页 |
| 4.2.4 测试方法及表征手段 | 第71-72页 |
| 4.2.5 结果与讨论 | 第72-79页 |
| 4.2.5.1 未还原样品透射电子显微镜分析 | 第72-73页 |
| 4.2.5.2 还原后样品透射电子显微镜分析 | 第73-74页 |
| 4.2.5.3 SiO_2@Ag纳米复合材料XRD表征 | 第74-75页 |
| 4.2.5.4 SERS性能测试 | 第75-76页 |
| 4.2.5.5 煅烧还原SiO_2@Ag拉曼探针对 4-ATP最低检测限分析 | 第76-77页 |
| 4.2.5.6 水合肼还原SiO_2@Ag拉曼探针对 4-ATP最低检测限分析 | 第77-78页 |
| 4.2.5.7 拉曼探针对农药（氧乐果）检测分析 | 第78-79页 |
| 4.3 标记SiO_2@Au修饰MWNTs拉曼探针制备及表征 | 第79-94页 |
| 4.3.1 引言 | 第79-80页 |
| 4.3.2 实验试剂及设备 | 第80页 |
| 4.3.3 碳纳米管的分散实验 | 第80-83页 |
| 4.3.3.1 不同介质中MWNTs的吸收光谱 | 第80-81页 |
| 4.3.3.2 不同分散剂分散MWNTs的标准工作曲线 | 第81-82页 |
| 4.3.3.3 不同介质中MWNTs的悬浮曲线 | 第82页 |
| 4.3.3.4 Au修饰MWNTs纳米复合材料的制备 | 第82页 |
| 4.3.3.5 SiO_2@Au修饰MWNTs纳米复合材料的制备 | 第82页 |
| 4.3.3.6 其他不同条件对SiO_2@Au修饰MWNTs纳米复合材料的影响 | 第82-83页 |
| 4.3.3.7 SiO_2@Au/MWNTs与Au/MWNTs探针检测 4-ATP | 第83页 |
| 4.3.4 测试方法及表征手段 | 第83页 |
| 4.3.5 结果与讨论 | 第83-94页 |
| 4.3.5.1 MWNTs悬浮液的稳定性研究 | 第83-86页 |
| 4.3.5.2 金修饰碳纳米管TEM表征 | 第86-89页 |
| 4.3.5.3 SiO_2@Au/MWNTs扫描电子显微镜分析 | 第89-90页 |
| 4.3.5.4 SiO_2@Au/MWNTs透射电子显微镜分析 | 第90-91页 |
| 4.3.5.5 Au@MWNT与MWNT拉曼光谱比较 | 第91-92页 |
| 4.3.5.6 SERS性能测试 | 第92-93页 |
| 4.3.5.7 标记SiO_2@Au/MWNTs拉曼探针用于蛋白质芯片检测 | 第93-94页 |
| 4.4 本章小结 | 第94-95页 |
| 全文总结 | 第95-98页 |
| 参考文献 | 第98-107页 |
| 致谢 | 第107-108页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第108-109页 |
