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热替换条件下电连接器电热耦合失效机理研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-14页
    1.1 研究背景及意义第10-11页
    1.2 电连接器可靠性国内外研究现状第11-12页
    1.3 多物理场的耦合及仿真分析第12-13页
    1.4 本文研究内容第13-14页
第二章 电连接器电热耦合失效机理分析第14-31页
    2.1 有限元方法基础第14-18页
        2.1.1 有限元概述第14页
        2.1.2 有限元解析过程第14-15页
        2.1.3 有限元问题特点第15-16页
        2.1.4 有限元方程组的建立第16-18页
    2.2 电热耦合数学模型建立第18-23页
        2.2.1 电磁场基础理论第18-20页
        2.2.2 热分析的有限元法第20-22页
        2.2.3 非线性耦合分析第22-23页
    2.3 电接触基本原理第23-26页
        2.3.1 电接触基本概念第23页
        2.3.2 接触电阻模型第23-26页
    2.4 电接触失效温升机理第26-30页
        2.4.1 电接触的失效机理分析第26-28页
        2.4.2 电接触的温升分析第28-30页
    2.5 本章小结第30-31页
第三章 热替换下电连接器焊点失效模型第31-41页
    3.1 焊点的疲劳失效机理第31-34页
        3.1.1 焊点界面失效分析第31-33页
        3.1.2 焊点疲劳断裂分析第33-34页
    3.2 无铅焊点热循环测试第34-38页
        3.2.1 焊点热循环测试第35-36页
        3.2.2 无铅焊料的电导率测试第36-37页
        3.2.3 焊点的试验结果第37-38页
    3.3 USB3.0 焊点电阻的数学模型第38-40页
    3.4 本章小结第40-41页
第四章 USB3.0 电热耦合仿真分析第41-59页
    4.1 USB3.0 结构模型第41-44页
    4.2 电热耦合仿真流程第44-48页
    4.3 仿真结果分析第48-58页
        4.3.1 热电反馈迭代算法第48-49页
        4.3.2 稳态电流仿真分析第49-55页
        4.3.3 瞬态热场仿真分析第55-58页
    4.4 本章小结第58-59页
第五章 USB3.0 接触失效过程仿真分析第59-70页
    5.1 焊点部位的失效模型第59页
    5.2 基于焊点失效的仿真分析第59-66页
        5.2.1 基于材料属性变化的仿真分析第60页
        5.2.2 基于接触面积变化的仿真分析第60-66页
    5.3 焊点电阻模型的失效分析第66-68页
    5.4 本章小结第68-70页
第六章 结论和展望第70-72页
    6.1 论文总结第70-71页
    6.2 对后继工作的展望第71-72页
致谢第72-73页
参考文献第73-76页
在学期间取得的研究成果第76-77页

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