基于处理器核分配方案的众核处理器可靠性增强技术
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 图录 | 第8-10页 |
| 表录 | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 论文研究背景 | 第11-13页 |
| 1.2 论文研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第15-16页 |
| 1.4 论文结构 | 第16-17页 |
| 第2章 空间环境影响与可靠性数学模型 | 第17-34页 |
| 2.1 空间环境与空间效应 | 第17-24页 |
| 2.1.1 地球磁场与磁层 | 第18-19页 |
| 2.1.2 空间粒子与辐射环境 | 第19-21页 |
| 2.1.3 空间效应 | 第21-24页 |
| 2.2 单粒子效应失效率分析 | 第24-28页 |
| 2.2.1 单粒子效应机理 | 第24-25页 |
| 2.2.2 单元电路的失效率 | 第25-28页 |
| 2.3 可靠性数学模型 | 第28-33页 |
| 2.3.1 可靠性与可靠度 | 第28-30页 |
| 2.3.2 可维性与可维度 | 第30-31页 |
| 2.3.3 可用性与可用度 | 第31-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 众核系统高可靠度总线参数优化 | 第34-42页 |
| 3.1 总线可靠性公式 | 第34-35页 |
| 3.2 高可靠度总线参数优化 | 第35-41页 |
| 3.2.1 约束条件的讨论 | 第35-36页 |
| 3.2.2 参数取值的优化 | 第36-40页 |
| 3.2.3 总线结构的推广 | 第40-41页 |
| 3.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 可靠性最优化分配方案 | 第42-75页 |
| 4.1 可靠性最优化分配新方案综述 | 第43-49页 |
| 4.1.1 分配方案综述 | 第43-45页 |
| 4.1.2 具体流程介绍 | 第45-49页 |
| 4.2 子系统对系统可用度的影响 | 第49-50页 |
| 4.3 子系统可靠性增强技术 | 第50-55页 |
| 4.3.1 现有的子系统冗余技术 | 第50-54页 |
| 4.3.2 本文提出的冗余技术 | 第54-55页 |
| 4.4 系统可用度的评估方法 | 第55-69页 |
| 4.4.1 子系统冗余技术可用度分析 | 第56-60页 |
| 4.4.2 分配前系统可用度评估方法 | 第60-62页 |
| 4.4.3 分配后系统可用度评估方法 | 第62-66页 |
| 4.4.4 系统可用度评估方法的比较分析 | 第66-69页 |
| 4.5 仿真评估与实验结果 | 第69-74页 |
| 4.5.1 仿真实验条件 | 第69-70页 |
| 4.5.2 仿真实验过程 | 第70-73页 |
| 4.5.3 仿真实验结果 | 第73-74页 |
| 4.6 本章小结 | 第74-75页 |
| 第5章 结束语 | 第75-77页 |
| 5.1 主要工作内容 | 第75-76页 |
| 5.2 后续研究工作 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文与专利 | 第81-83页 |
