β射线法空气颗粒物自动监测仪器校准研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-10页 |
| 1.2 研究目的和意义 | 第10页 |
| 1.3 β射线法自动监测仪器影响因素 | 第10-12页 |
| 1.3.1 采样流量 | 第10-11页 |
| 1.3.2 温湿度 | 第11页 |
| 1.3.3 校准膜校准结果 | 第11页 |
| 1.3.4 采样管路 | 第11页 |
| 1.3.5 纸带走纸精度 | 第11-12页 |
| 1.3.6 其他偶然因素 | 第12页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4.7 国内现状 | 第12页 |
| 1.4.8 国外现状 | 第12-13页 |
| 1.5 研究内容 | 第13-15页 |
| 1.5.1 研究内容 | 第13页 |
| 1.5.2 研究技术路线 | 第13-15页 |
| 第二章 标准参考尘膜制备平台的构建 | 第15-22页 |
| 2.1 平台构建理论基础 | 第15-16页 |
| 2.1.1 β射线吸收原理 | 第15-16页 |
| 2.1.2 手工重量法 | 第16页 |
| 2.2 平台构建 | 第16-21页 |
| 2.2.1 基体滤膜筛选设备 | 第17-19页 |
| 2.2.2 基体滤膜前处理设备 | 第19页 |
| 2.2.3 校准尘采集设备 | 第19-21页 |
| 2.2.4 实验室验证设备 | 第21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 标准参考尘膜制备及外场校验方法 | 第22-30页 |
| 3.1 实验材料 | 第22-23页 |
| 3.1.1 滤膜 | 第22页 |
| 3.1.2 标准粒子 | 第22-23页 |
| 3.2 标准参考尘膜制备方法 | 第23-27页 |
| 3.2.1 基体滤膜筛选 | 第23-26页 |
| 3.2.2 滤膜前处理 | 第26页 |
| 3.2.3 校准尘采集 | 第26-27页 |
| 3.2.4 实验室检定 | 第27页 |
| 3.3 标准参考尘膜外场校验方法 | 第27-28页 |
| 3.3.1 修正系数K的确定 | 第28页 |
| 3.3.2 浓度校验 | 第28页 |
| 3.3.3 校验结果评估 | 第28页 |
| 3.4 本章小结 | 第28-30页 |
| 第四章 标准参考尘膜性能分析 | 第30-47页 |
| 4.1 滤膜截留效率测试 | 第30-33页 |
| 4.1.1 测试装置性能测试 | 第30-31页 |
| 4.1.2 不同测试条件下截留效率测试 | 第31-33页 |
| 4.2 不同基体标准参考尘膜性能分析 | 第33-45页 |
| 4.2.1 玻璃纤维滤膜 | 第33-36页 |
| 4.2.2 Pall石英滤膜 | 第36-39页 |
| 4.2.3 Pall Teflon滤膜 | 第39-41页 |
| 4.2.4 Whatman Teflon滤膜 | 第41-44页 |
| 4.2.5 最优基体滤膜选择 | 第44-45页 |
| 4.3 外场校验结果分析 | 第45-46页 |
| 4.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 结论与展望 | 第47-49页 |
| 5.1 结论 | 第47页 |
| 5.2 展望 | 第47-49页 |
| 参考文献 | 第49-53页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
