| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 正电子简介 | 第10-14页 |
| 1.1.1 正电子的发现 | 第10页 |
| 1.1.2 正电子的基本性质 | 第10页 |
| 1.1.3 正电子谱学特点及应用 | 第10-11页 |
| 1.1.4 正电子谱学实验方法 | 第11-12页 |
| 1.1.5 正电子与物质的相互作用 | 第12-14页 |
| 1.2 GEANT4软件包简介 | 第14-17页 |
| 1.2.1 GEANT4介绍 | 第14-15页 |
| 1.2.2 GEANT4发展历程 | 第15页 |
| 1.2.3 GEANT4功能 | 第15-16页 |
| 1.2.4 GEANT4总结 | 第16-17页 |
| 1.3 钛酸铅材料简介 | 第17-19页 |
| 1.3.1 钛酸铅基本信息 | 第17页 |
| 1.3.2 钛酸铅相关研究介绍 | 第17-19页 |
| 1.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 参考文献 | 第20-22页 |
| 第二章 正电子注入金属材料的模拟 | 第22-44页 |
| 2.1 正电子模拟研究现状 | 第23-24页 |
| 2.2 垂直入射背散射系数 | 第24-26页 |
| 2.3 垂直入射平均注入深度 | 第26页 |
| 2.4 倾斜入射背散射系数 | 第26-28页 |
| 2.5 倾斜入射X,Y及Z扩散深度分布 | 第28-33页 |
| 2.5.1 X深度分布 | 第28-30页 |
| 2.5.2 Y深度分布 | 第30-31页 |
| 2.5.3 Z深度分布 | 第31-33页 |
| 2.6 分布中心偏移量和分布极值点偏移量分析 | 第33-40页 |
| 2.6.1 Y深度分布中心偏移量 | 第34-36页 |
| 2.6.2 Z深度分布极值点偏移量 | 第36-40页 |
| 2.7 本章小结 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-44页 |
| 第三章 正电子寿命谱对钛酸铅相关材料的研究 | 第44-64页 |
| 3.1 钛酸铅相关材料研究进展 | 第44-47页 |
| 3.2 正电子寿命谱仪对钛酸铅相关材料研究进展 | 第47-49页 |
| 3.3 钛酸铅相关材料样品制备 | 第49-53页 |
| 3.3.1 纯钛酸铅样品制备 | 第49-51页 |
| 3.3.2 镧(La)掺杂的钛酸铅样品制备 | 第51-53页 |
| 3.4 正电子湮没寿命谱研究结果与分析 | 第53-55页 |
| 3.4.1 钛酸铅及镧掺杂钛酸铅的正电子湮没寿命值 | 第53-54页 |
| 3.4.2 数据结果对比与分析 | 第54-55页 |
| 3.5 磁性测量结果与分析 | 第55-57页 |
| 3.6 差示扫描量热仪测量结果与分析 | 第57-59页 |
| 3.7 本章小结 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 第四章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 4.1 本文总结 | 第64页 |
| 4.2 本文创新点 | 第64-65页 |
| 4.3 展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-68页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第68页 |