| 中文摘要 | 第4-5页 |
| 英文摘要 | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1．1 红外热成像技术 | 第9-11页 |
| 1．1．1 红外热成像的基本原理 | 第9页 |
| 1．1．2 红外辐射及其大气窗口 | 第9-10页 |
| 1．1．3 红外热成像技术的发展 | 第10-11页 |
| 1．2 非制冷红外焦平面技术及国内外发展现状 | 第11-14页 |
| 1．2．1 非制冷红外焦平面热成像主要技术途径 | 第11-13页 |
| 1．2．2 非致冷红外成像的国内外现状 | 第13-14页 |
| 1．3 IRFPA测试技术 | 第14-18页 |
| 1．3．1 IRFPA性能参数测试的复杂性 | 第14-15页 |
| 1．3．2 IRFPA性能参数测试的国内外现状 | 第15-17页 |
| 1．3．3 混合式热释电IRFPA开发中的测试与实验 | 第17-18页 |
| 1．4 本文的研究内容 | 第18-19页 |
| 2 虚拟仪器及LabVIEW平台 | 第19-30页 |
| 2．1 虚拟仪器 | 第19-23页 |
| 2．1．1 虚拟仪器的由来和概念 | 第19-20页 |
| 2．1．2 虚拟仪器的实质和特点 | 第20-22页 |
| 2．1．3 虚拟仪器的发展 | 第22-23页 |
| 2．2 虚拟仪器的系统构成 | 第23-25页 |
| 2．2．1 虚拟仪器的硬件构成 | 第23-24页 |
| 2．2．2 虚拟仪器的软件构成 | 第24-25页 |
| 2．3 LabVIEW | 第25-28页 |
| 2．3．1 LabVIEW编程环境介绍 | 第26页 |
| 2．3．2 LabVIEW的操作模扳 | 第26-27页 |
| 2．3．3 LabVIEW的VI程序调用方法 | 第27-28页 |
| 2．3．4 LabVIEW的特点 | 第28页 |
| 2．4 用于IRFPA测试的虚拟仪器的构建 | 第28-30页 |
| 3 基于VI的128×128热释电IRFPAROIC的参数测试 | 第30-49页 |
| 3．1 热释电IRFPA信号的读出 | 第30-33页 |
| 3．1．1 热释电ROIC | 第30-32页 |
| 3．1．2 ROIC驱动信号源 | 第32-33页 |
| 3．2 基于NIPCI-DAQ和LabVIEW的数据采集 | 第33-37页 |
| 3．2．1 数据采集（DAQ）卡的选择 | 第33-34页 |
| 3．2．2 提高采集精度的措施 | 第34-37页 |
| 3．3 ROIC参数与测试方法 | 第37-40页 |
| 3．3．1 热释电IRFPAROIC特性参数 | 第37-38页 |
| 3．3．2 测试方法 | 第38-40页 |
| 3．4 基于VI的ROIC参数测试系统 | 第40-47页 |
| 3．4．1 系统的硬件组成 | 第40页 |
| 3．4．2 测试系统软件 | 第40-43页 |
| 3．4．3 主要测试模块及使用说明 | 第43-47页 |
| 3．5 128×128热释电IRFPAROIC的参数测试 | 第47-49页 |
| 3．5．1 测试过程 | 第47页 |
| 3．5．2 测试结果 | 第47-49页 |
| 4 基于VI的热释电IRFPA联调实验 | 第49-58页 |
| 4．1 热释电红外探测器 | 第49-53页 |
| 4．1．1 热释电器件探测原理 | 第50页 |
| 4．1．2 热释电材料 | 第50-52页 |
| 4．1．3 混合式热释电焦平面的制作 | 第52-53页 |
| 4．2 斩波调制 | 第53-55页 |
| 4．2．1 热释电红外成像中的斩波调制 | 第53页 |
| 4．2．2 机械斩波调制 | 第53-55页 |
| 4．3 基于VI的联调实验 | 第55-58页 |
| 4．3．1 系统硬件 | 第55页 |
| 4．3．2 系统软件 | 第55-57页 |
| 4．3．3 联调实验结果 | 第57-58页 |
| 5 基于VI的IRFPA参数测试 | 第58-71页 |
| 5．1《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》介绍 | 第58-62页 |
| 5．1．1 测试参数 | 第58-60页 |
| 5．1．2 测试原理和条件 | 第60页 |
| 5．1．3 测试方法 | 第60-62页 |
| 5．2 基于VI的IRFPA参数测试系统 | 第62-68页 |
| 5．2．1 参数测试系统的硬件 | 第63-64页 |
| 5．2．2 参数测试系统软件 | 第64-67页 |
| 5．2．3 主要参数计算的校验 | 第67-68页 |
| 5．3 制冷型IRFPA初步测试结果 | 第68-71页 |
| 6 全文总结 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 附录 | 第76页 |
