| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| 1.1 射频识别技术简介 | 第7-8页 |
| 1.2 RFID 技术的发展历史、特点与应用 | 第8-11页 |
| 1.3 本文的结构安排 | 第11-12页 |
| 第二章 符合ISO/IEC 18000-6 Type C标准的RFID标签数字电路 | 第12-16页 |
| 2.1 ISO/IEC 18000-6 Type C 标准的协议解读与电路框架及设计 | 第12-14页 |
| 2.2 低功耗设计方案 | 第14-16页 |
| 第三章 RFID标签的数字电路物理设计 | 第16-56页 |
| 3.1 数据准备 | 第16-21页 |
| 3.2 数据载入 | 第21页 |
| 3.3 布图规划与布局 | 第21-34页 |
| 3.3.1 布图规划 | 第22-24页 |
| 3.3.2 电源规划 | 第24-26页 |
| 3.3.3 加载时序约束 | 第26-29页 |
| 3.3.4 布局 | 第29-34页 |
| 3.4 时钟树综合（CTS） | 第34-44页 |
| 3.5 布线 | 第44-49页 |
| 3.5.1 设置布线和优化选项 | 第44-45页 |
| 3.5.2 布时钟线 | 第45页 |
| 3.5.3 全局布线 | 第45-46页 |
| 3.5.4 分配连线轨道 | 第46-47页 |
| 3.5.5 详细布线 | 第47-49页 |
| 3.6 可制造性预设计 | 第49-53页 |
| 3.6.1 修正天线效应违例 | 第49-51页 |
| 3.6.2 接触孔的优化 | 第51页 |
| 3.6.3 金属分条或者开槽 | 第51-52页 |
| 3.6.4 加载填充单元 | 第52页 |
| 3.6.5 修正金属的Notch 和Gap | 第52页 |
| 3.6.6 互连线密度填充 | 第52-53页 |
| 3.7 设计文件导出 | 第53-56页 |
| 第四章 RFID标签芯片的验证、仿真与测试 | 第56-63页 |
| 4.1 时序检查与修正 | 第56-58页 |
| 4.2 后仿真 | 第58-59页 |
| 4.3 验证版图 | 第59-60页 |
| 4.4 芯片的测试 | 第60-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-66页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |