摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
目录 | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-14页 |
1.1 课题的研究背景 | 第8-9页 |
1.2 课题的研究意义 | 第9-10页 |
1.3 国内外研究现状 | 第10-14页 |
1.3.1 国外研究状况 | 第10-11页 |
1.3.2 国内研究状况 | 第11-13页 |
1.3.3 课题的研究内容 | 第13-14页 |
2 六西格玛的相关理论和方法 | 第14-20页 |
2.1 六西格玛的科学内涵 | 第15页 |
2.2 六西格玛的特点 | 第15-17页 |
2.3 六西格玛的管理创新之处 | 第17页 |
2.4 六西格玛的应用的领域 | 第17-20页 |
2.4.1 可以帮助制造性企业减少次品,提高效益,降低成本 | 第17-18页 |
2.4.2 可成功运用于服务性行业或公共机构 | 第18-19页 |
2.4.3 保持并提高顾客忠诚度 | 第19页 |
2.4.4 与ISO9000相结合 | 第19页 |
2.4.5 使企业从单纯的质量控制提升到文化的变革 | 第19-20页 |
3 基于六西格玛缩短XXXD雷达近场测试周期项目定义(D-define) | 第20-32页 |
3.1 六西格玛管理项目的定义 | 第20页 |
3.2 项目的选择 | 第20-22页 |
3.2.1 选择原则 | 第20-21页 |
3.2.2 六西格玛管理项目选择流程 | 第21-22页 |
3.3 缩短XXXD雷达天线近场测试周期项目概述 | 第22-31页 |
3.3.1 项目来源 | 第22-25页 |
3.3.2 项目的选定 | 第25页 |
3.3.3 项目的范围 | 第25-28页 |
3.3.4 项目的历史状况 | 第28页 |
3.3.5 项目目标 | 第28-29页 |
3.3.6 项目预期财务收益计算 | 第29页 |
3.3.7 缩短XXXD产品近场调试周期项目任务书 | 第29-31页 |
3.4 项目定义阶段小结 | 第31-32页 |
4 缩短XXXD雷达近场测试周期项目测量(M-Measure) | 第32-43页 |
4.1 Y的测量方法描述 | 第32-33页 |
4.1.1 Y阵的测量 | 第32页 |
4.1.2 Y套的测量(单套雷达的测量方法) | 第32-33页 |
4.2 Y的测量系统分析(Gage R&R或MSA) | 第33页 |
4.3 影响因素的初步分析 | 第33-39页 |
4.3.1 因果图(Cause and effect diagram) | 第33-35页 |
4.3.2 因果矩阵(Cause and effect matrix) | 第35-36页 |
4.3.3 失效模式和影响分析(FMEA) | 第36-39页 |
4.4 数据收集计划 | 第39-42页 |
4.5 本章小结 | 第42-43页 |
5 缩短XXXD雷达近场测试周期项目问题分析(A-Analysis) | 第43-55页 |
5.1 对X的分析 | 第43-48页 |
5.2 对关键X的分析 | 第48-54页 |
5.2.1 对关键X的梳理 | 第48-49页 |
5.2.2 对关键X的量化分析 | 第49-54页 |
5.3 本章小结 | 第54-55页 |
6 缩短XXXD雷达近场测试周期项目改进(I-Improvement) | 第55-69页 |
6.1 试验设计 | 第56-67页 |
6.1.1 试验设计一——阵面总装过程中的防护工艺 | 第56-57页 |
6.1.2 试验设计二——设立调试周转件 | 第57-60页 |
6.1.3 试验设计三——改善工序7和8的联调方案 | 第60-61页 |
6.1.4 试验设计四——开发多任务测试系统 | 第61-62页 |
6.1.5 试验设计五——开发新的数据上传系统 | 第62-65页 |
6.1.6 试验设计六——开发二次补相软件 | 第65页 |
6.1.7 试验设计七——阵面温度分布均匀性的改善和监测 | 第65-66页 |
6.1.8 试验设计八——开发专用阵面调试设备改造暗室 | 第66-67页 |
6.2 本章小结 | 第67-69页 |
7 缩短XXXD雷达近场测试周期项目控制(C-Control) | 第69-79页 |
7.1 控制方案及计划 | 第70-72页 |
7.2 改进方案的文件化/标准化 | 第72-73页 |
7.3 改进效果 | 第73-77页 |
7.4 项目效益计算 | 第77-78页 |
7.5 项目跟踪 | 第78页 |
7.6 本章小结 | 第78-79页 |
8 总结与展望 | 第79-82页 |
8.1 总结与体会 | 第79-80页 |
8.2 展望 | 第80-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-85页 |