| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 引言 | 第10-20页 |
| 1.1 电子与物质的相互作用 | 第10-11页 |
| 1.2 电子致原子内壳层电离截面测量的背景和拟研究目标 | 第11-20页 |
| 1.2.1 研究目的 | 第11-15页 |
| 1.2.2 研究的历史及现状 | 第15-18页 |
| 1.2.3 拟研究目标 | 第18-20页 |
| 第2章 PENELOPE软件和蒙卡模拟方法 | 第20-30页 |
| 2.1 Monte Carlo方法和软件介绍 | 第20-22页 |
| 2.1.1 Monte Carlo方法特点 | 第20-21页 |
| 2.1.2 通用Monte Carlo软件比较 | 第21-22页 |
| 2.2 PENELOPE软件介绍 | 第22-23页 |
| 2.3 PENELOPE软件应用 | 第23-30页 |
| 2.3.1 数据库中原子参数提取 | 第24-28页 |
| 2.3.2 电离截面数据库替换 | 第28-30页 |
| 第3章 低能电子致原子内壳层电离截面测量 | 第30-43页 |
| 3.1 实验装置平台 | 第30-32页 |
| 3.1.1 束流积分仪的线性 | 第31页 |
| 3.1.2 束流强度控制 | 第31页 |
| 3.1.3 SDD探测器 | 第31-32页 |
| 3.2 提高测量精度的技术方法 | 第32-40页 |
| 3.2.1 获取特征峰净计数 | 第32页 |
| 3.2.2 SDD探测器的效率刻度 | 第32-35页 |
| 3.2.3 电离截面测量值的修正计算 | 第35-39页 |
| 3.2.4 靶膜厚度 | 第39-40页 |
| 3.3 实验值的获取及误差分析 | 第40-43页 |
| 3.3.1 实验值的获取 | 第40-41页 |
| 3.3.2 误差分析 | 第41-43页 |
| 第4章 实验结果及分析 | 第43-50页 |
| 4.1 L层特征X射线产生截面值 | 第43-46页 |
| 4.2 M_(αβ)X射线产生截面值 | 第46-50页 |
| 第5章 结论与展望 | 第50-52页 |
| 5.1 结论 | 第50-51页 |
| 5.2 展望 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56页 |