| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第10-20页 |
| 1.1 粒子物理简史 | 第10-11页 |
| 1.2 标准模型 | 第11-12页 |
| 1.3 粲物理的发展 | 第12-13页 |
| 1.4 粲夸克偶素衰变到重子-反重子对及角分布 | 第13-15页 |
| 1.5 本文研究背景与意义 | 第15-16页 |
| 1.6 国内外现状 | 第16-18页 |
| 1.7 本论文的研究目的、研究内容以及拟解决的关键问题 | 第18-20页 |
| 第2章 北京正负电子对撞机和北京谱仪简介 | 第20-26页 |
| 2.1 北京正负电子对撞机Ⅱ简介 | 第20-21页 |
| 2.2 北京谱仪Ⅲ简介 | 第21-25页 |
| 2.2.1 子探测器介绍 | 第22页 |
| 2.2.2 其他系统 | 第22-25页 |
| 2.3 本文采用的BESⅢ数据样本及蒙特卡罗模拟 | 第25-26页 |
| 第3章 BESⅢ上Ψ(3686)→Ω~-(?)~+分支比的测量 | 第26-58页 |
| 3.1 事例初选 | 第26-30页 |
| 3.2 遍举方法重建Ψ(3686)→Ω~-(?)~+的研究 | 第30-32页 |
| 3.2.1 事例选择及探测效率 | 第30-31页 |
| 3.2.2 背景分析 | 第31-32页 |
| 3.3 单标记方法重建Ψ(3686)→Ω~-(?)~+的研究 | 第32-35页 |
| 3.3.1 事例选择及探测效率 | 第33-34页 |
| 3.3.2 背景分析 | 第34-35页 |
| 3.4 信号拟合 | 第35-37页 |
| 3.5 分支比的测量结果 | 第37-38页 |
| 3.6 Ψ(3686)→Ω~-(?)~+衰变的角分布 | 第38-50页 |
| 3.7 系统误差分析 | 第50-55页 |
| 3.7.1 Ψ(3686)数据样本的事例总数 | 第50页 |
| 3.7.2 粒子鉴别 | 第50-51页 |
| 3.7.3 中间过程衰变的分支比 | 第51页 |
| 3.7.4 拟合范围误差 | 第51-52页 |
| 3.7.5 初级顶点拟合和次级顶点拟合误差 | 第52页 |
| 3.7.6 径迹探测效率误差 | 第52-53页 |
| 3.7.7 信号拟合误差 | 第53页 |
| 3.7.8 角分布系数α的不确定性 | 第53-55页 |
| 3.7.9 总的系统误差 | 第55页 |
| 3.8 输入输出检查 | 第55-57页 |
| 3.9 本章小结 | 第57-58页 |
| 第4章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 研究生期间科研成果 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
