| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 闪烁体探测器 | 第10-12页 |
| 1.2 其他常用X射线探测器 | 第12-15页 |
| 1.2.1 气体电离探测器 | 第12-13页 |
| 1.2.2 半导体探测器 | 第13-15页 |
| 1.3 CsI:Tl闪烁体的发展与研究现状 | 第15-17页 |
| 1.4 CCD的发展与应用 | 第17-19页 |
| 1.5 研究内容及结构安排 | 第19-20页 |
| 第二章 集成化探测器的器件基础 | 第20-36页 |
| 2.1 光电倍增管（PMT） | 第20-24页 |
| 2.1.1 PMT的光电转换原理与结构 | 第20-22页 |
| 2.1.2 PMT的性能参数 | 第22-24页 |
| 2.2 CMOS图像传感器 | 第24-28页 |
| 2.2.1 CMOS的结构原理 | 第25-26页 |
| 2.2.2 CMOS的主要性能参数 | 第26-28页 |
| 2.3 CCD图像传感器 | 第28-34页 |
| 2.3.1 CCD的电荷转移机制 | 第29-30页 |
| 2.3.2 CCD的主要指标参数 | 第30-34页 |
| 2.4 CCD在X射线探测中的应用 | 第34-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 CsI:Tl光探测集成薄膜的光转换模拟 | 第36-51页 |
| 3.1 X射线探测系统 | 第36-38页 |
| 3.1.1 间接探测 | 第36-37页 |
| 3.1.2 直接探测 | 第37-38页 |
| 3.2 CsI:Tl闪烁薄膜的制备 | 第38-40页 |
| 3.2.1 制备方法与材料 | 第38页 |
| 3.2.2 实验装置与测试仪器 | 第38-39页 |
| 3.2.3 薄膜的结构与发光特性 | 第39-40页 |
| 3.3 CsI:Tl柱状集成薄膜的性能模拟 | 第40-50页 |
| 3.3.1 光传输机制 | 第40-43页 |
| 3.3.2 空间频域信号 | 第43-47页 |
| 3.3.3 量子效率 | 第47-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 集成化的CsI:Tl X射线探测器的性能仿真 | 第51-68页 |
| 4.1 模拟原理及方法 | 第51-54页 |
| 4.1.1 Monte Carlo模拟 | 第51页 |
| 4.1.2 Geant4 | 第51-52页 |
| 4.1.3 建立模型 | 第52-54页 |
| 4.2 间接耦合探测系统 | 第54-61页 |
| 4.2.1 光学透镜耦合 | 第54-57页 |
| 4.2.2 光纤光锥耦合 | 第57-61页 |
| 4.2.3 电子光激励耦合 | 第61页 |
| 4.3 直接耦合探测系统 | 第61-66页 |
| 4.3.1 直接耦合系统的模拟 | 第63-64页 |
| 4.3.2 结果分析 | 第64-66页 |
| 4.4 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 集成用CCD相机的数据采集控制设计 | 第68-81页 |
| 5.1 探测器的集成化设计 | 第68-69页 |
| 5.2 实验所用CCD的性能特性 | 第69-70页 |
| 5.3 实验所用相机的性能特性 | 第70-73页 |
| 5.4 相机的数据采集控制驱动设计 | 第73-80页 |
| 5.5 本章小结 | 第80-81页 |
| 第六章 总结 | 第81-83页 |
| 6.1 结论 | 第81-82页 |
| 6.2 展望 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 附录 | 第88-93页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第93-94页 |