| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 课题背景以及研究意义 | 第16-18页 |
| 1.2 论文的主要内容和章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 降压型DC-DC转换器的工作原理 | 第20-32页 |
| 2.1 降压型DC-DC的拓扑结构及工作模式 | 第20-27页 |
| 2.1.2 降压型DC-DC在CCM模式下的稳态分析 | 第21-25页 |
| 2.1.3 降压型DC-DC在DCM模式下的稳态分析 | 第25-27页 |
| 2.2 降压型DC-DC转换器的调制方式 | 第27-32页 |
| 2.2.1 脉冲宽度调制（PWM）模式 | 第27-30页 |
| 2.2.2 脉冲频率调制（PFM）模式 | 第30页 |
| 2.2.3 跨脉冲周期调制（PSM）模式 | 第30-32页 |
| 第三章 宽频高效双相交错并联实现技术 | 第32-48页 |
| 3.1 功耗和效率分析 | 第32-35页 |
| 3.1.1 同步整流技术 | 第32-33页 |
| 3.1.2 主要损耗分析 | 第33-35页 |
| 3.2 锁相环基本原理 | 第35-43页 |
| 3.2.1 电荷泵锁相环的基本结构 | 第35-40页 |
| 3.2.2 电荷泵锁相环稳定性分析 | 第40-43页 |
| 3.3 双相交错并联技术 | 第43-48页 |
| 第四章 芯片XD1670的系统设计 | 第48-62页 |
| 4.1 芯片的引脚定义以及电特性介绍 | 第48-50页 |
| 4.2 系统的框图及工作原理 | 第50-52页 |
| 4.3 芯片外围器件的选择 | 第52-54页 |
| 4.3.1 电感的选择 | 第52页 |
| 4.3.2 输入电容和输出电容的选择 | 第52-53页 |
| 4.3.3 分压电阻的选择 | 第53-54页 |
| 4.4 系统稳定性分析 | 第54-59页 |
| 4.4.1 电流环稳定性介绍以及斜坡补偿原理 | 第54-56页 |
| 4.4.2 电压环稳定性分析 | 第56-59页 |
| 4.5 双相交错并联应用 | 第59-62页 |
| 第五章 XD1670关键子模块的设计与仿真 | 第62-78页 |
| 5.1 带隙电压基准模块的设计与实现 | 第62-70页 |
| 5.1.1 带隙电压基准的工作原理 | 第62-65页 |
| 5.1.2 带隙电压基准具体实现电路 | 第65-68页 |
| 5.1.3 带隙电压基准的仿真分析 | 第68-70页 |
| 5.2 误差放大器的设计与实现 | 第70-73页 |
| 5.2.1 误差放大器的工作原理 | 第70-72页 |
| 5.2.2 误差放大器的仿真结果 | 第72-73页 |
| 5.3 电流采样模块的设计与实现 | 第73-78页 |
| 5.3.1 电流采样的工作原理 | 第73-75页 |
| 5.3.2 电流采样的电路设计 | 第75-77页 |
| 5.3.3 电流采样电路的仿真分析 | 第77-78页 |
| 第六章 XD1670系统整体性能仿真验证 | 第78-84页 |
| 6.1 单个芯片功能仿真 | 第78-82页 |
| 6.2 芯片交错并联工作仿真 | 第82-84页 |
| 第七章 总结与展望 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-90页 |
| 致谢 | 第90-92页 |
| 作者简介 | 第92-93页 |