| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 主要符号表 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第12-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-17页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第17-18页 |
| 第2章 航空电子设备的典型结构 | 第18-25页 |
| 2.1 通孔式安装元器件 | 第18-22页 |
| 2.1.1 直插式封装元器件 | 第18-21页 |
| 2.1.2 直插类电连接元器件 | 第21-22页 |
| 2.2 表面贴装元器件 | 第22-23页 |
| 2.3 底板级 | 第23-24页 |
| 2.4 系统级 | 第24-25页 |
| 第3章 航空电子设备的有限元建模 | 第25-35页 |
| 3.1 基本电子元器件（第一级）建模 | 第26-29页 |
| 3.2 插件级（第二级）电子设备建模 | 第29-30页 |
| 3.3 底板级（第三级）电子设备建模 | 第30-33页 |
| 3.4 系统级（第四级）电子设备建模 | 第33-35页 |
| 第4章 可靠性分析方法 | 第35-40页 |
| 4.1 可靠性分析的一次二阶矩法 | 第35-36页 |
| 4.2 蒙特卡洛法 | 第36-37页 |
| 4.3 线抽样法 | 第37-38页 |
| 4.4 响应面法 | 第38-40页 |
| 第5章 可靠性分析的随机变量及分布 | 第40-46页 |
| 5.1 指数分布 | 第40-41页 |
| 5.2 正态分布 | 第41-42页 |
| 5.3 对数正态分布 | 第42-44页 |
| 5.4 Γ分布 | 第44页 |
| 5.5 X~2分布 | 第44-45页 |
| 5.6 极值分布 | 第45-46页 |
| 第6章 航空电子设备可靠性分析 | 第46-71页 |
| 6.1 基于有限元的可靠性分析一般步骤 | 第46页 |
| 6.2 ANSYS中的可靠性分析方法 | 第46-48页 |
| 6.3 航空电子设备结构可靠性的失效模式 | 第48-50页 |
| 6.3.1 结构失效分析概述 | 第48-49页 |
| 6.3.2 可靠性分析 | 第49-50页 |
| 6.4 航空电子设备可靠性计算 | 第50-71页 |
| 6.4.1 航空电子设备结构动强度刚度可靠性 | 第50-66页 |
| 6.4.2 航空电子设备结构在温变作用下的强度刚度可靠性 | 第66-71页 |
| 总结与展望 | 第71-73页 |
| 总结 | 第71-72页 |
| 展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 攻读硕士期间发表（含录用）的学术论文 | 第77页 |