首页--工业技术论文--一般工业技术论文--工程材料学论文--特种结构材料论文

用于高集成度微系统的Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线器件结构的研究

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-18页
    1.1 研究背景第10-16页
        1.1.1 半导体纳米材料及其性质第10-11页
        1.1.2 半导体纳米线及其应用第11-13页
        1.1.3 半导体纳米线pn结及其应用第13-16页
    1.2 论文的结构安排第16-17页
    参考文献第17-18页
第二章 纳米线的制备与表征方法第18-38页
    2.1 生长机制第18-19页
    2.2 生长方法第19-30页
        2.2.1 气-液-固(VLS)生长机制第20-26页
        2.2.2 VS(气-固)生长机制第26-27页
        2.2.3 金属有机化学气相沉积外延技术第27-30页
    2.3 纳米线的表征方法第30-36页
        2.3.1 扫描电子显微镜技术第30-32页
        2.3.2 透射电子显微镜技术第32-34页
        2.3.3 光致发光谱第34-36页
    2.4 本章小结第36-37页
    参考文献第37-38页
第三章 基于扩散方程的纳米线生长模型第38-59页
    3.1 纳米线生长的扩散模型第38-40页
        3.1.1 纳米线的生长模型对比第38-40页
        3.1.2 纳米线生长的动力学过程第40页
    3.2 不考虑侧面成核情况下MOCVD纳米线生长速率与半径的关系第40-46页
    3.3 考虑侧面成核MOCVD下纳米线生长的形貌方程第46-51页
    3.4 侧面成核形貌曲线的研究第51-54页
    3.5 结果分析第54-55页
    3.6 本章小结第55-57页
    参考文献第57-59页
第四章 GaAs纳米线轴向pn结实验研究第59-76页
    4.1 Ⅲ-Ⅴ纳米线各类型pn结的研究进展第59-69页
        4.1.1 衬底-纳米线型pn结纳米线第59-60页
        4.1.2 径向pn结纳米线第60-63页
        4.1.3 轴向pn结纳米线第63-69页
    4.2 轴向pn结纳米线的生长实验及其测试方案第69-74页
        4.2.1 纳米线制备方案第69-70页
        4.2.2 轴向pn结纳米线电学特性的测量方案第70-74页
    4.3 本章小结第74-75页
    参考文献第75-76页
致谢第76-78页
攻读硕士学位期间发表的学术论文第78页

论文共78页,点击 下载论文
上一篇:利用上下文信息的高分辨率SAR图像解译技术研究
下一篇:卫星互联网跨层调度及资源分配方法研究