| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景及问题的提出 | 第10页 |
| ·课题的国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件测试所面临的问题 | 第12-13页 |
| ·课题的主要研究内容 | 第13-14页 |
| 2 嵌入式发控系统 IO 控制器软件测试的基本理论 | 第14-21页 |
| ·软件测试的基本理论 | 第14-16页 |
| ·软件测试的定义 | 第14页 |
| ·软件测试的目的 | 第14-15页 |
| ·软件测试的分类 | 第15-16页 |
| ·软件测试技术 | 第16-18页 |
| ·静态测试技术 | 第16页 |
| ·动态测试技术 | 第16-17页 |
| ·覆盖率测试技术 | 第17-18页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件测试 | 第18-20页 |
| ·嵌入式软件测试环境 | 第18-19页 |
| ·嵌入式软件测试特点 | 第19-20页 |
| ·嵌入式软件测试方法 | 第20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 3 自动化测试过程模型和独立仿真平台的建立 | 第21-41页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件的特点 | 第21-22页 |
| ·自动化测试过程模型 | 第22-30页 |
| ·典型软件测试过程模型 | 第22-28页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件测试过程模型 | 第28-30页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件测试过程模型的优点 | 第30页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件独立仿真平台的建立 | 第30-39页 |
| ·独立仿真平台主要功能和技术指标 | 第30-31页 |
| ·独立仿真平台结构及组成 | 第31-36页 |
| ·独立仿真平台软件校验及测试 | 第36-39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 4 嵌入式发控系统 IO 控制器软件静态测试 | 第41-52页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件静态测试的相关概念 | 第41-42页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件静态测试需求与难点 | 第42-43页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件静态测试技术 | 第43-51页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件静态分析过程 | 第43-45页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件静态测试技术 | 第45-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 5 嵌入式发控系统 IO 控制器软件内存泄露测试 | 第52-65页 |
| ·内存泄露测试相关概念 | 第52-53页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件测试需求与难点 | 第53-55页 |
| ·内存泄露过程 | 第55-58页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件内存泄露测试技术 | 第58-64页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件内存泄露的动态测试工具 | 第58-59页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件内存泄露过程 | 第59-60页 |
| ·内存使用缺陷测试的关注点举例说明 | 第60-63页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件内存使用缺陷结果分析 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 6 嵌入式发控系统 IO 控制器软件逻辑覆盖率测试 | 第65-80页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件逻辑覆盖率测试的相关概念 | 第65-66页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件测试需求与难点 | 第66-67页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件自动化测试工具 | 第67-71页 |
| ·逻辑覆盖率测试工具的选择 | 第67-68页 |
| ·MACABE 工具技术原理 | 第68-70页 |
| ·TESTBED 工具技术原理 | 第70-71页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件黑盒覆盖率测试技术 | 第71-79页 |
| ·测试环境配置 | 第71-72页 |
| ·测试准备工作 | 第72页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件覆盖率测试过程 | 第72-77页 |
| ·嵌入式 IO 控制器软件覆盖率测试结果分析 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 7 结论 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第86-89页 |
| 附件 | 第89页 |
