| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第7页 |
| 1.2 圆极化微带天线研究现状 | 第7-11页 |
| 1.3 论文的内容与结构安排 | 第11-12页 |
| 2 顺序旋转馈电技术 | 第12-23页 |
| 2.1 基本概念及带宽展宽机理 | 第12-15页 |
| 2.1.1 基本概念 | 第12页 |
| 2.1.2 带宽展宽机理 | 第12-13页 |
| 2.1.3 线极化单元组阵的场分析 | 第13-15页 |
| 2.2 不同极化单元对阵列带宽的影响 | 第15-20页 |
| 2.2.1 不同极化单元对阻抗带宽和轴比带宽的影响 | 第15-17页 |
| 2.2.2 不同极化单元对阵列增益和增益带宽的影响 | 第17-20页 |
| 2.3 顺序旋转阵列间距的研究 | 第20-22页 |
| 2.3.1 圆极化单元组阵间距的研究 | 第20-21页 |
| 2.3.2 线极化单元组阵间距的研究 | 第21页 |
| 2.3.3 两种单元组阵φ=45°交叉极化 | 第21-22页 |
| 2.3.4 两种单元组阵间距的选择 | 第22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 3 2×2双频双圆极化顺序旋转微带子阵列 | 第23-34页 |
| 3.1 子阵方案描述 | 第23-26页 |
| 3.1.1 子阵结构 | 第23-24页 |
| 3.1.2 顺序旋转串联馈电网络 | 第24-25页 |
| 3.1.3 顺序旋转并联馈电网络 | 第25-26页 |
| 3.2 双频正交线极化贴片单元 | 第26-27页 |
| 3.2.1 单元基本结构 | 第26-27页 |
| 3.2.2 单元仿真结果 | 第27页 |
| 3.3 馈电网络的耦合分析 | 第27-30页 |
| 3.3.1 馈线与馈线之间的耦合 | 第27-29页 |
| 3.3.2 馈电网络的仿真优化结果 | 第29-30页 |
| 3.3.3 馈线与贴片之间的耦合 | 第30页 |
| 3.4 子阵仿真优化结果 | 第30-33页 |
| 3.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 4 双频双圆极化顺序旋转微带阵列 | 第34-49页 |
| 4.1 8×8阵列 | 第34-41页 |
| 4.1.1 阵列结构 | 第34页 |
| 4.1.2 阵元间距对阵因子的影响 | 第34-36页 |
| 4.1.3 馈电网络的设计 | 第36页 |
| 4.1.4 加工与测试 | 第36-41页 |
| 4.2 16×16阵列 | 第41-48页 |
| 4.2.1 阵列结构 | 第41页 |
| 4.2.2 馈电结构 | 第41-44页 |
| 4.2.3 测试结果 | 第44-48页 |
| 4.3 本章小结 | 第48-49页 |
| 5 圆极化天线测量技术 | 第49-57页 |
| 5.1 研究现状 | 第49页 |
| 5.2 利用线分量幅度和相位的测试方法 | 第49-50页 |
| 5.3 仅利用线分量幅度的测试方法 | 第50-54页 |
| 5.3.1 相位信息推导 | 第50-51页 |
| 5.3.2 轴比特性推导 | 第51-52页 |
| 5.3.3 主极化旋向的判定 | 第52页 |
| 5.3.4 测试中特殊情况的处理 | 第52-53页 |
| 5.3.5 方向图及增益 | 第53-54页 |
| 5.4 测试方案及验证 | 第54-56页 |
| 5.4.1 测试方案 | 第54-55页 |
| 5.4.2 测试验证 | 第55-56页 |
| 5.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 结束语 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 附录 | 第62页 |