非正态条件下过程能力指数的统计推断
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 第一节 研究背景 | 第8-9页 |
| 第二节 研究意义 | 第9页 |
| 第三节 国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 第四节 创新点及研究框架 | 第11-13页 |
| 第二章 过程能力指数及相关理论 | 第13-26页 |
| 第一节 正态条件下过程能力指数及相关理论 | 第13-18页 |
| 一、正态条件下的过程能力指数 | 第13-16页 |
| 二、过程能力指数与不合格品率的关系 | 第16-17页 |
| 三、过程能力指数与过程性能指数 | 第17-18页 |
| 第二节 三种非正态条件下的过程能力指数 | 第18-22页 |
| 一、Box-Cox变换模型 | 第19-20页 |
| 二、基于加权方差的过程能力指数 | 第20-21页 |
| 三、Clements方法(广义过程能力指数) | 第21-22页 |
| 第三节 当前过程能力指数研究中存在的问题 | 第22-23页 |
| 第四节 广义置信区间估计方法 | 第23-26页 |
| 第三章 几种非正态条件下的广义置信区间估计 | 第26-44页 |
| 第一节 Weibull分布下的过程能力指数 | 第26-32页 |
| 一、Weibull分布 | 第26-28页 |
| 二、Weibull分布下的过程能力指数 | 第28页 |
| 三、Weibull分布下的广义置信区间估计 | 第28-31页 |
| 四、Weibull分布广义置信区间模拟研究 | 第31-32页 |
| 第二节 对数正态分布条件下的过程能力指数 | 第32-38页 |
| 一、对数正态分布 | 第32-34页 |
| 二、对数正态分布下的过程能力指数 | 第34页 |
| 三、对数正态分布下的广义置信区间估计 | 第34-36页 |
| 四、对数正态分布广义置信区间模拟研究 | 第36-38页 |
| 第四节 广义指数分布条件下的过程能力指数 | 第38-44页 |
| 一、广义指数分布 | 第38-39页 |
| 二、广义指数分布下的过程能力指数 | 第39-40页 |
| 三、广义指数分布下的广义置信区间估计 | 第40-42页 |
| 四、广义指数分布模拟研究 | 第42-44页 |
| 第四章 结论及展望 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 附录 | 第48-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
