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功率模块IGBT状态监测及可靠性评估方法研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
1 绪论第10-22页
   ·功率模块 IGBT 的可靠性及状态监测研究意义及现状第10-17页
     ·课题研究背景和意义第10-12页
     ·课题研究现状第12-17页
   ·论文主要研究内容第17-18页
   ·论文研究主要技术路线第18-20页
   ·本章小结第20-22页
2 功率模块 IGBT 及失效机理研究第22-46页
   ·概述第22页
   ·IGBT 结构第22-24页
   ·IGBT 工作原理第24-25页
   ·IGBT 基本特性第25-28页
     ·IGBT 静态特性第25-26页
     ·IGBT 动态特性第26-28页
   ·IGBT 锁定效应与安全工作区第28-31页
     ·锁定效应第28-30页
     ·安全工作区第30-31页
   ·IGBT 保护第31-34页
     ·过电压保护第31-32页
     ·过电流保护第32-34页
   ·IGBT 结构第34-35页
   ·IGBT 失效机理第35-42页
     ·失效评判标准第35-36页
     ·失效评判归类第36-42页
   ·IGBT 失效对策第42-43页
   ·本章小结第43-46页
3 功率模块 IGBT 驱动电路可靠性研究第46-60页
   ·功率模块驱动电路第46-51页
     ·驱动电路要求第46-49页
     ·驱动电路分析第49-51页
   ·驱动可靠性理论分析第51-56页
     ·功率模块常见故障第52页
     ·功率模块损耗第52-53页
     ·驱动电路拓扑第53-56页
   ·驱动可靠性实验验证第56-59页
     ·实验平台搭建第56-57页
     ·实验输出结果第57页
     ·实验 PWM 输出波形第57-58页
     ·实验占空比调试界面第58页
     ·实验表面温度实时监控画面第58-59页
     ·实验表面温度实时监控曲线第59页
   ·本章小结第59-60页
4 功率模块 IGBT 状态监测与评估方法研究第60-82页
   ·概述第60-61页
   ·外特性状态监测可行性分析第61-64页
     ·外特性表面温度测试实验第61-62页
     ·外特性表面温升理论分析第62-64页
     ·功率模块失效评判指标第64页
   ·外特性状态监测瞬态模型与评估第64-66页
     ·瞬态数据采集第64页
     ·瞬态曲线拟合第64-65页
     ·瞬态特征提取第65页
     ·瞬态状态评估第65-66页
   ·外特性状态监测稳态模型与评估第66-67页
     ·稳态数据采集第66-67页
     ·稳态曲线拟合第67页
     ·稳态特征提取第67页
     ·稳态状态评估第67页
   ·基于神经网络的外特性黑箱监测算法研究第67-75页
     ·外特性黑箱监测算法第67-68页
     ·基于 BP 算法的模型构建第68-71页
     ·基于 GA 算法的模型构建第71-74页
     ·外特性黑箱检测算法模型第74-75页
   ·基于神经网络的外特性黑箱监测算法案例及综合评判应用第75-80页
     ·实验平台搭建第75-77页
     ·实验结果分析第77-78页
     ·外特性黑箱检测算法应用第78-80页
     ·外特性黑箱检测算法讨论第80页
   ·本章小结第80-82页
5 功率模块 IGBT 热模型及寿命预测研究第82-98页
   ·概述第82页
   ·功率损耗研究第82-86页
     ·功率损耗定义第82-83页
     ·功率损耗模型第83-86页
   ·热分析研究第86-91页
     ·热阻物理定义第86-87页
     ·热模型研究第87-91页
   ·热阻分析第91-94页
     ·热阻理论计算第91页
     ·热阻提取实验第91-94页
   ·寿命预测第94-97页
     ·引线寿命预测模型第94页
     ·焊接寿命预测模型第94-95页
     ·模块寿命预测模型第95-97页
   ·本章小结第97-98页
6 结论与展望第98-102页
   ·本文主要研究工作第98-99页
   ·本文创新点第99页
   ·后续工作展望第99-102页
致谢第102-104页
参考文献第104-112页
附录第112-114页
 A 作者在攻读博士学位期间发表的论文目录第112-113页
 B 作者在攻读博士学位期间参与的科研项目第113-114页
 C 实验电路连接实物图第114页
 D 实验驱动电路实物图第114页

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