| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 图表目录 | 第9-12页 |
| 英汉缩略语表 | 第12-13页 |
| 符号表 | 第13-15页 |
| 1 绪论 | 第15-22页 |
| ·太赫兹频段简介以及太赫兹的应用 | 第15-16页 |
| ·太赫兹时域光谱系统及其研究现状 | 第16-20页 |
| ·太赫兹时域光谱系统简介 | 第16-18页 |
| ·太赫兹时域光谱系统研究现状 | 第18-20页 |
| ·课题研究的意义、内容、以及章节安排 | 第20-22页 |
| ·课题研究的意义 | 第20页 |
| ·课题研究的内容 | 第20页 |
| ·章节安排 | 第20-22页 |
| 2 基于时域光谱技术的太赫兹平行束实验平台的原理 | 第22-37页 |
| ·太赫兹辐射的产生 | 第22-27页 |
| ·光整流效应 | 第22-23页 |
| ·光导天线产生太赫兹辐射 | 第23-24页 |
| ·半导体表面场效应 | 第24-27页 |
| ·太赫兹探测原理 | 第27-36页 |
| ·等效时间采样原理 | 第27-29页 |
| ·自由空间电光采样原理 | 第29-33页 |
| ·太赫兹探测部分器件 | 第33-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 3 基于时域光谱技术的太赫兹平行束实验平台的搭建 | 第37-54页 |
| ·基于时域光谱技术的太赫兹平行束实验平台的设计及搭建方法 | 第37-41页 |
| ·基于时域光谱技术的太赫兹平行束实验平台的搭建步骤 | 第41-48页 |
| ·基于时域光谱技术的太赫兹平行束实验平台的优化 | 第48-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 4 基于时域光谱技术的太赫兹平行束实验平台的性能 | 第54-80页 |
| ·系统的各项技术参数 | 第54-65页 |
| ·信噪比和动态范围 | 第54-58页 |
| ·太赫兹平行束的束斑大小 | 第58-61页 |
| ·太赫兹平行束的平行度 | 第61-62页 |
| ·实验系统的稳定性 | 第62-65页 |
| ·系统实验 | 第65-78页 |
| ·斩波器频率的变化对太赫兹信号的影响 | 第65-70页 |
| ·ZnTe角度的变化对太赫兹信号的影响 | 第70-71页 |
| ·探测光功率的变化对太赫兹信号的影响 | 第71-74页 |
| ·泵浦光功率的变化对太赫兹信号的影响 | 第74-75页 |
| ·测量高阻硅片的折射率和消光系数 | 第75-78页 |
| ·小结 | 第78-80页 |
| 结论与展望 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 作者简介 | 第85页 |