基于TETRA终端产品的自动化检测系统设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·本研究的意义 | 第10页 |
| ·TETRA 及其它数字集群技术发展趋势 | 第10-12页 |
| ·与现有技术的比较 | 第12-13页 |
| ·论文的结构与安排 | 第13-15页 |
| 第二章 理论及分析 | 第15-34页 |
| ·自动化测试技术的理论与发展 | 第15-17页 |
| ·TETRA 测试理论与方法 | 第17-33页 |
| ·测试条件说明 | 第17-19页 |
| ·TETRA 终端产品的测试方法及意义 | 第19-28页 |
| ·测试仪器需求分析 | 第28-29页 |
| ·仪器设备选型 | 第29-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 自动测试系统设计方案 | 第34-51页 |
| ·总体设计 | 第34-38页 |
| ·测试过程分析 | 第34-35页 |
| ·信号通路设计与控制设备选型 | 第35-36页 |
| ·通信总线选择 | 第36-37页 |
| ·结构与安装方式 | 第37-38页 |
| ·硬件实现方案 | 第38-43页 |
| ·MCU 控制板设计 | 第38-42页 |
| ·控制箱结构设计 | 第42-43页 |
| ·设备安装及连接方式 | 第43页 |
| ·软件实现方案 | 第43-50页 |
| ·软件思路与构架 | 第43-44页 |
| ·程序语言选择 | 第44-45页 |
| ·主机软件设计 | 第45-48页 |
| ·MCU 控制板软件设计 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 校准与性能验证 | 第51-54页 |
| ·测试系统校准 | 第51页 |
| ·性能验证 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 总结 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| IV?2答辩委员会对论文的评定意见 | 第59页 |
