基于ADVANTEST的混合测试平台开发
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-11页 |
| ·课题的意义及国内外研究现状综述 | 第6-11页 |
| ·课题的来源及意义 | 第6-7页 |
| ·IC 测试技术现状分析 | 第7-10页 |
| ·存储器测试技术的发展现状 | 第10-11页 |
| 第二章 半导体存储器 | 第11-20页 |
| ·半导体存储器分类 | 第11-15页 |
| ·RAM | 第11-13页 |
| ·ROM | 第13-14页 |
| ·闪存（Flash） | 第14-15页 |
| ·半导体存储器测试 | 第15-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 ADVANTEST 测试平台 | 第20-26页 |
| ·ADVANTEST T53XX 测试系统 | 第20-24页 |
| ·T53XX 硬件系统 | 第20-22页 |
| ·T53XX 软件系统 | 第22-24页 |
| ·ATL 测试程序 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第四章 混合测试平台的实现 | 第26-62页 |
| ·混合测试平台介绍 | 第26页 |
| ·混合测试平台结构 | 第26-30页 |
| ·程序语言 | 第26-27页 |
| ·测试程序目录结构 | 第27-28页 |
| ·测试程序执行流程 | 第28-30页 |
| ·共享产品程序 | 第30-36页 |
| ·创建编译选项 | 第31-34页 |
| ·共享测试项 | 第34-36页 |
| ·共享平台程序 | 第36-44页 |
| ·测试模板的分类 | 第37-41页 |
| ·测试模板的实现 | 第41-44页 |
| ·用户菜单与失效分析 | 第44-61页 |
| ·用户菜单的实现 | 第45-51页 |
| ·创建PSRAM 产品子菜单 | 第51-57页 |
| ·PSRAM 失效分析 | 第57-59页 |
| ·提高失效分析工作效率 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 基于混合测试平台的测试程序开发 | 第62-79页 |
| ·基于混合测试平台的测试程序开发 | 第62-67页 |
| ·产品程序开发流程 | 第62-66页 |
| ·混合测试平台优势 | 第66-67页 |
| ·PSRAM AADMUX 测试程序开发 | 第67-78页 |
| ·AADMUX 介绍 | 第67-71页 |
| ·AADMUX 测试程序开发 | 第71-76页 |
| ·提高测试程序开发效率 | 第76-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 结论与展望 | 第79-82页 |
| ·全文总结 | 第79-80页 |
| ·主要结论 | 第80-81页 |
| ·本文的不足与展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 附录 | 第84-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第97-100页 |
| 附件 | 第100页 |
