热释电IRFPA非均匀校正算法的研究与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 缩写词表 | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·红外热成像技术的发展 | 第9-10页 |
| ·红外热成像技术的应用 | 第10-11页 |
| ·在军事上的应用 | 第10-11页 |
| ·在民事上的应用 | 第11页 |
| ·非致冷红外热像仪 | 第11-12页 |
| ·课题的背景和主要研究任务 | 第12-15页 |
| ·课题背景 | 第12-13页 |
| ·论文研究内容和结构 | 第13-15页 |
| 第二章 非制冷铁电红外热像系统 | 第15-23页 |
| ·非制冷红外技术 | 第15-16页 |
| ·铁电焦平面凝视成像系统基本组成 | 第16-17页 |
| ·光学系统以及斩波器 | 第17-22页 |
| ·调制斩波器 | 第18-20页 |
| ·铁电探测器 | 第20-22页 |
| ·热释电效应及热释电探测器工作原理 | 第22-23页 |
| 第三章 红外焦平面阵列非均匀性研究 | 第23-31页 |
| ·非均匀性 | 第23-25页 |
| ·非均匀性的定义 | 第23-25页 |
| ·定义的讨论 | 第25页 |
| ·非均匀性的内在分析 | 第25-29页 |
| ·非均匀性噪声的组成 | 第26页 |
| ·非均匀性噪声的产生原因 | 第26-27页 |
| ·非均匀性噪声的漂移 | 第27-28页 |
| ·非均匀性的来源 | 第28-29页 |
| ·非均匀性的定量评价 | 第29-31页 |
| 第四章 红外焦平面阵列的非均匀性校正方法 | 第31-46页 |
| ·红外焦平面探测器非均匀性数学模型 | 第31-32页 |
| ·单点校正法 | 第32-33页 |
| ·两点校正法 | 第33-35页 |
| ·多点校正法 | 第35-36页 |
| ·两点多段校正法 | 第36-37页 |
| ·时域高通滤波器法 | 第37-39页 |
| ·常统计量约束(CS)法 | 第39-41页 |
| ·人工神经网络法 | 第41-43页 |
| ·卡尔曼滤波法 | 第43页 |
| ·小波变换算法 | 第43-44页 |
| ·非均匀性校正方法总结 | 第44-46页 |
| 第五章 MATLAB仿真非均匀校正算法 | 第46-54页 |
| ·MATLAB介绍 | 第46页 |
| ·非均匀校正算法仿真及结果 | 第46-53页 |
| ·定标 | 第46-48页 |
| ·一点非均匀校正 | 第48-49页 |
| ·两点非均匀校正 | 第49-50页 |
| ·两点多段校正 | 第50页 |
| ·时域高通滤波 | 第50-52页 |
| ·直方图均衡 | 第52-53页 |
| ·仿真结果分析 | 第53-54页 |
| 第六章 非均匀校正算法及图像增强的 DSP实现 | 第54-64页 |
| ·DSP芯片介绍 | 第54-56页 |
| ·DSP芯片的基本结构 | 第54-55页 |
| ·DSP芯片的选择 | 第55页 |
| ·TMS320C5416芯片简介 | 第55-56页 |
| ·热释电红外探测器成像装置 | 第56-57页 |
| ·硬件平台 | 第56页 |
| ·FPGA&DSP的功能 | 第56-57页 |
| ·图像信号差分处理 | 第57-58页 |
| ·DSP程序开发 | 第58-63页 |
| ·存储器分配 | 第58页 |
| ·程序结构及处理过程 | 第58-59页 |
| ·流程图 | 第59-62页 |
| ·中断处理及函数 | 第62-63页 |
| ·试验结果及分析 | 第63-64页 |
| 第七章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
