| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-32页 |
| ·课题来源及研究的目的和意义 | 第14-15页 |
| ·纳米微结构制备方法的发展概况 | 第15-22页 |
| ·刻蚀技术 | 第15-19页 |
| ·纳米压印技术 | 第19-21页 |
| ·自组装技术 | 第21-22页 |
| ·嵌段共聚物自组装的发展概况 | 第22-31页 |
| ·应用嵌段共聚物的纳米技术 | 第23-26页 |
| ·有序纳米微结构调控技术的发展状况 | 第26-31页 |
| ·本课题的主要研究内容 | 第31-32页 |
| 第2章 自组装的理论研究及有序性评价 | 第32-54页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·嵌段共聚物自组装的理论研究 | 第32-48页 |
| ·自组装的作用力 | 第33-35页 |
| ·嵌段共聚物的分子运动 | 第35-37页 |
| ·嵌段共聚物微相分离 | 第37-40页 |
| ·嵌段共聚物微相分离机理 | 第40-43页 |
| ·嵌段共聚物薄膜自组装 | 第43-47页 |
| ·自组装纳米微结构形态的调控及锁定 | 第47-48页 |
| ·自组装纳米微结构的有序性评价 | 第48-53页 |
| ·AFM 扫描图像 | 第48-50页 |
| ·快速傅立叶变换（FFT）分析 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第3章 自组装有序纳米微结构形态转变过程的AFM表征 | 第54-72页 |
| ·引言 | 第54-55页 |
| ·自组装纳米微结构形态的表征 | 第55-62页 |
| ·表征手段 | 第55-56页 |
| ·嵌段共聚物薄膜的TM-AFM 表征 | 第56-62页 |
| ·AFM 离位跟踪表征 | 第62-71页 |
| ·两步推进法重复定位技术 | 第63-66页 |
| ·AFM 离位跟踪的实验研究 | 第66-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第4章 自组装有序纳米微结构的实验研究 | 第72-96页 |
| ·引言 | 第72页 |
| ·单偏场调控技术 | 第72-86页 |
| ·实验原料及设备 | 第72-73页 |
| ·样品制备 | 第73-74页 |
| ·AFM 表征 | 第74-75页 |
| ·结果与讨论 | 第75-86页 |
| ·多偏场调控技术 | 第86-95页 |
| ·实验原料及设备 | 第87页 |
| ·样品制备 | 第87-89页 |
| ·AFM 表征 | 第89-90页 |
| ·结果与讨论 | 第90-95页 |
| ·本章小结 | 第95-96页 |
| 第5章 有序纳米微结构薄膜的纳米压痕实验研究 | 第96-115页 |
| ·引言 | 第96页 |
| ·实验方法及设备 | 第96-103页 |
| ·纳米压痕法 | 第96-99页 |
| ·TriboIndenter 系统 | 第99-101页 |
| ·聚合物纳米薄膜的测试 | 第101-103页 |
| ·材料及样品制备 | 第103-104页 |
| ·实验材料 | 第103页 |
| ·样品制备 | 第103-104页 |
| ·结果与讨论 | 第104-114页 |
| ·基底对测试结果的影响 | 第104-106页 |
| ·实验参数对测试结果的影响 | 第106-109页 |
| ·自组装纳米微结构对表面机械性能的影响 | 第109-114页 |
| ·本章小结 | 第114-115页 |
| 结论 | 第115-117页 |
| 参考文献 | 第117-126页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第126-128页 |
| 致谢 | 第128-129页 |
| 个人简历 | 第129页 |